| 研究課題/領域番号 |
20246139
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
原子力学
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| 研究機関 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 |
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研究代表者 |
関口 哲弘 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究主幹 (20373235)
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| 研究分担者 |
馬場 祐治 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究主幹 (90360403)
下山 巌 (下山 巖) 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究副主幹 (10425572)
本田 充紀 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 博士研究員 (10435597)
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| 研究協力者 |
平尾 法恵 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 技術開発協力員 (30600027)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
48,360千円 (直接経費: 37,200千円、間接経費: 11,160千円)
2011年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2010年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2009年度: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2008年度: 40,560千円 (直接経費: 31,200千円、間接経費: 9,360千円)
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| キーワード | 光電子顕微鏡 / 放射光 / 有機半導体 / 有機薄膜 / 直線偏光 / ナノ材料 / X線吸収分光 / X線吸収測定 / 電気化学反応 |
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| 研究概要 |
種々の直線偏光角度をもつX線放射光照射下において有機半導体薄膜の光電子顕微鏡(PEEM)観測と微小領域におけるX線吸収スペクトルを測定することのできる回転型PEEM超高真空装置、及び直線偏光化素子を合わせもった真空紫外光源を設計・製作した。種々の化学構造をもつシリコンフタロシアニン有機半導体分子薄膜を真空蒸着法及び溶液法により様々な基板上に作成し、角度分解X線吸収スペクトル測定及びPEEM観察を行った。分子配向に対する基板依存性、膜厚依存、加熱による拡散効果を見出した。
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