探針-試料間電圧印加チューニングによる結合形成過程の原子分解能・顕微分光解析

• 研究課題/領域番号: 20310058
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: ナノ材料・ナノバイオサイエンス
• 研究機関: 金沢大学
• 研究代表者: 新井 豊子 金沢大学, 数物科学系, 教授 (20250235)
• 連携研究者: 富取 正彦 北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 教授 (10188790) ; 村田 英幸 北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 教授 (10345663)
• 研究期間 (年度): 2008 – 2011
• 研究課題ステータス: 完了 (2011年度)
• 配分額: 18,720千円 (直接経費: 14,400千円、間接経費: 4,320千円); 2011年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円); 2010年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円); 2009年度: 5,720千円 (直接経費: 4,400千円、間接経費: 1,320千円); 2008年度: 7,410千円 (直接経費: 5,700千円、間接経費: 1,710千円)
• キーワード: 走査プローブ顕微鏡 / 化学結合 / 結合形成過程 / ナノ表面・界面 / 顕微分光 / 走査型プローブ顕微鏡 / ナノ力学的顕微分光法

研究概要

本研究は、独自開発した電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法(Biasnc-AFM/S)を発展させ、試料表面上の原子と探針先端原子との間の結合形成の過程・電子状態の変化を明らかにすることを目的とした。このために高感度力センサーの開発、電子回路の高感度化により探針試料間相互作用力、電流、エネルギー散逸の高感度同時計測を実現した。シリコン-シリコン原子間の共有結合力は、局所電子状態密度に強く依存していることを明らかにした。

研究成果

• [雑誌論文] Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe (2012)
  • 著者名/発表者名: Yonkil Jeong
  • 雑誌名: Current Applied Physics 巻: 12 号: 2 ページ: 581-584
  • DOI: 10.1016/j.cap.2011.09.005
  • 査読あり
• [雑誌論文] Atomic resolution force microscopy imaging on a strongly ionic surface with differently functionalized tip (2010)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Gritschneder, S., Troger, L., Reichling, M.
  • 雑誌名: J. Vac. Sci. Technol. B 巻: 28 号: 6 ページ: 1279-1283
  • DOI: 10.1116/1.3511505
  • NAID: 120002754106
  • 査読あり
• [雑誌論文] Adsorption State of 4, 4 Diamino-p-terphenyl through an Amino Group Bound to Si(111)-7x7 Surface Examined by X-ray Photoelectron Spectroscopy and Scanning Tunneling Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Nishimura, T., Itabashi, A., Sasahara, A., Murata, H., Arai, T., Tomitori, M.
  • 雑誌名: J. Phys. Chem. C 巻: 114 号: 25 ページ: 11109-11114
  • DOI: 10.1021/jp102976a
  • 査読あり
• [雑誌論文] Atomic resolution force microscopy imaging on a strongly ionic surface with differently functionalized tips (2010)
  • 著者名/発表者名: T.Arai, S.Gritschneder, L.Troger, M.Reichling
  • 雑誌名: J.Vac.Sci.Technol.B(リポジトリ) 28(6) ページ: 1279-1283
  • NAID: 120002754106
  • URL: http://dspace.lib.kanazawa-u.ac.jp/dspace/handle/2297/26229
  • 査読あり
• [雑誌論文] Adsorption State of 4,4"-Diamino-p-terphenyl through an Amino Group Bound to Si(111)-7x7 Surface Examined by X-ray Photoelectron Spectroscopy and Scanning Tunneling Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Takashi Nishimura, Atsushi Itabashi, Akira Sasahara, Hideyuki Murata, Toyoko Arai, Masahiko Tomitori
  • 雑誌名: J.Phys.Chem.C 114(25) ページ: 11109-11114
  • 査読あり
• [雑誌論文] Adsorption State of 4,4"-Diamino-p-terphenyl through an Amino Group Bound to Si(111)-7x7 Surface Examined by X-ray Photoelectron Spectroscopy and Scanning Tunneling Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Takashi Nishimura
  • 雑誌名: The Journal of Physical Chemistry C 巻: 114 ページ: 11109-11114
  • 査読あり
• [雑誌論文] Atomic resolution force microscopy imaging on a strongly ionic surface with differently functionalized tips (2010)
  • 著者名/発表者名: T.Arai
  • 雑誌名: Journal of Vacuum Science & Technology B 巻: 28 ページ: 1279-1283
  • NAID: 120002754106
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low-flux elucidation of initial growth of Ge clusters deposited on Si(111)-7x7 observed by scanning tunneling microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Ansari, Z. A., Arai, T., Tomitori, M.
  • 雑誌名: Phys. Rev. B 巻: 79 号: 3
  • DOI: 10.1103/physrevb.79.033302
  • NAID: 120001316586
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low-flux elucidation of initial growth of Ge clusters deposited on Si(111)-7x7 observed by scanning tunneling microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Z.A.Ansari, T.Arai, M.Tomitori
  • 雑誌名: Phys.Rev.B(リポジトリ) 79
  • NAID: 120001316586
  • URL: http://dspace.lib.kanazawa-u.ac.jp/dspace/handle/2297/17500
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low-flux elucidation of initial growth of Ge clusters deposited on Sl(111)-7×7 observed by scanning tunneling microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Z. A. Ansari
  • 雑誌名: Phys. Rev. B 79
  • 査読あり
• [雑誌論文] 「表面界面のナノ力学」走査型プローブ顕微鏡にみる電圧印加のナノ力学的相互作用 (2008)
  • 著者名/発表者名: 富取正彦, 新井豊子
  • 雑誌名: 表面科学 巻: 29 号: 4 ページ: 239-245
  • DOI: 10.1380/jsssj.29.239
  • NAID: 130004486490
  • ISSN: 0388-5321, 1881-4743
  • 査読あり
• [雑誌論文] 走査型プローブ顕微鏡にみる電圧印加のナノ力学的相互作用 (2008)
  • 著者名/発表者名: 富取正彦、新井豊子
  • 雑誌名: 表面科学(リポジトリ) 29(4) ページ: 239-245
  • NAID: 10021165886
  • URL: https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/handle/10119/7939
  • 査読あり
• [雑誌論文] 走査型プローブ顕微鏡にみる電圧印加のナノカ学的相互作用 (2008)
  • 著者名/発表者名: 富取正彦
  • 雑誌名: 表面科学 29 ページ: 239-245
  • 査読あり
• [学会発表] Si(001)に吸着したDATのSTM像探針バイアス依存性 (2012)
  • 著者名/発表者名: 小田将人
  • 学会等名: 日本物理学会第67回年次大会
  • 発表場所: 関西学院大(兵庫県)
  • 年月日: 2012-03-24
• [学会発表] 自励発振式水晶振動子センサーを用いた超高真空FM-AFMの開発II (2012)
  • 著者名/発表者名: 作石達哉
  • 学会等名: 第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大(東京都)
  • 年月日: 2012-03-15
• [学会発表] 超高真空非接触原子間力顕微鏡による水素終端Si(111)7×7の解析 (2012)
  • 著者名/発表者名: 池島達弥
  • 学会等名: 第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大(東京都)
  • 年月日: 2012-03-15
• [学会発表] Non-contact AFM observation of Si(111)-(7×7) terminated with hydrogen (2011)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Ishikawa, T., Ikeshima, T., Tomitori, M.
  • 学会等名: The 6th International Symposium on Surface Science(ISSS6)
  • 発表場所: タワーホール船堀(東京都)
  • 年月日: 2011-12-12
• [学会発表] NC-AFM observation of hydrogen terminated Si(111)-(7×7) (2011)
  • 著者名/発表者名: Toyoko Arai
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science (ISSS6)
  • 発表場所: タワーホール船堀(東京都)
  • 年月日: 2011-12-12
• [学会発表] 極低温超高真空STMの開発～極低温から高温まで温度可変STM観察～ (2011)
  • 著者名/発表者名: 高田真希
  • 学会等名: 応用物理学会北陸・信越支部学術講演会
  • 発表場所: 金沢歌劇座(石川県)
  • 年月日: 2011-11-19
• [学会発表] 水晶振動子q-Plusセンサーを利用したSTM/nc-AFMの開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 作石達哉
  • 学会等名: 応用物理学会北陸・信越支部学術講演会
  • 発表場所: 金沢歌劇座(石川県)
  • 年月日: 2011-11-18
• [学会発表] 超高真空非接触原子間力顕微鏡による水素終端Si(111)7×7の観察 (2011)
  • 著者名/発表者名: 池島達弥
  • 学会等名: 応用物理学会北陸・信越支部学術講演会
  • 発表場所: 金沢歌劇座(石川県)
  • 年月日: 2011-11-18
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡による水素終端Si(111)7×7の観察と電子状態の考察 (2011)
  • 著者名/発表者名: 池島達弥
  • 学会等名: 応用物理学会北陸・信越支部学術講演会
  • 発表場所: 金沢歌劇座(石川県)
  • 年月日: 2011-11-18
• [学会発表] Si(001)表面におけるDAT分子の電子状態 (2011)
  • 著者名/発表者名: 小田将人
  • 学会等名: 日本物理学会2011年秋季大会
  • 発表場所: 富山大(富山県)
  • 年月日: 2011-09-23
• [学会発表] NC-AFM and Force spectroscopy applied to H terminated Si(111)7x7 (2011)
  • 著者名/発表者名: Toyoko Arai
  • 学会等名: 14th International Conferencence on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Lindau, Germany
  • 年月日: 2011-09-20
• [学会発表] Development of nc-AFM/STM using a tuning fork quartz force sensor (2011)
  • 著者名/発表者名: Toyoko Arai
  • 学会等名: 14th International Conferencence on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Lindau, Germany
  • 年月日: 2011-09-20
• [学会発表] NC-AFM and Force spectroscopy applied to H terminated Si(111) 7x7 (2011)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Ikeshima, T., Zhang, Y., Tomitori, M.
  • 学会等名: 14th International Conferencence on Noncontact Atomic Force Microscopy(ncAFM2011)
  • 発表場所: Lindau(Germany)
  • 年月日: 2011-09-19
• [学会発表] NC-AFM observation of Si(111)7x7 terminated with hydrogen (2011)
  • 著者名/発表者名: Toyoko Arai
  • 学会等名: 14th International Conferencence on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Lindau, Germany
  • 年月日: 2011-09-19
• [学会発表] 水晶振動子力センサー・静電容量補償回路を用いたSTM/nc-AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: 作石達哉
  • 学会等名: 第72回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 山形大学(山形県)
  • 年月日: 2011-08-31
• [学会発表] ITO/YSZ(111)上のテレフタルアルデヒド分子の雰囲気制御FM-AFMによる観察 (2011)
  • 著者名/発表者名: 山谷寛
  • 学会等名: 第58回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 講演予稿集http://www.jsap.or.jp
• [学会発表] 透明電極基板上π共役分子TPAのSTMによる微視的解析 (2011)
  • 著者名/発表者名: 高田真希
  • 学会等名: 第58回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 講演予稿集http://www.jsap.or.jp
• [学会発表] 自励発振式水晶振動子力センサーを用いた超高真空NNC-AFMの開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 作石達哉
  • 学会等名: 第58回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 講演予稿集http://www.jsap.or.jp
• [学会発表] π共役系分子で界面制御したSi/有機半導体素子の製作と評価 (2011)
  • 著者名/発表者名: 西村高志
  • 学会等名: 第58回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 講演予稿集http://www.jsap.or.jp
• [学会発表] Si(001)表面におけるDAT分子の吸着構造と電子状態 (2011)
  • 著者名/発表者名: 小田将人
  • 学会等名: 日本物理学会第66回年次大会
  • 発表場所: 概要集・Webサイトhttp://wwwsoc.nii.acjp/jps/index.html
• [学会発表] π電子系分子で界面制御したシリコン/有機半導体素子の製作と評価 (2010)
  • 著者名/発表者名: 西村高志,村田英幸,笹原亮,新井豊子,富取正彦
  • 学会等名: 応用物理学会北陸・信越支部学術講演会
  • 発表場所: 金沢大学(石川県)
  • 年月日: 2010-11-19
• [学会発表] Nanoscale analysis by combined spectroscopies based on non-contact atomic force microscopy under a bias voltage (2010)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Ikeshima, T., Kiyohara, K., Tomitori, M.
  • 学会等名: 13th International Conferencence on Noncontact Atomic Force Microscopy(ncAFM2010)
  • 発表場所: 川県立音楽堂(石川県)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Development of SPM instruments and tip preparation for force sensors (2010)
  • 著者名/発表者名: T.Arai, T.Sakuishi, K.Hori, M.Tomitori
  • 学会等名: 13th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: 石川県立音楽堂(石川県)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Nanoscale analysis by combined spectroscopies based on noncontact atomic force microscopy under a bias voltage (2010)
  • 著者名/発表者名: T.Arai, T.Ikeshima, K.Kiyohara, M.Tomitori
  • 学会等名: 13th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: 石川県立音楽堂(石川県)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Self-organization of a -lactalbumin on a H-passivated Si(111)-7x7 surface studied at atmospheric pressure using non-contact atomic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Zubaida A.Ansari
  • 学会等名: 13th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy (nc-AFM2010)
  • 発表場所: 石川県立音楽堂(石川県)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] n-conjugated molecules on metal oxide surfaces analyzed by FM-AFM in an environment-controlled atmosphere (2010)
  • 著者名/発表者名: 山谷寛
  • 学会等名: 13th International Conference on Noncontact Ato mic Force Microscopy (nc-AFM2010)
  • 発表場所: 石川県立音楽堂(石川県)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Development of SPM instruments and tip preparation for force sensors (2010)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子
  • 学会等名: 13th International Conference on Noncontact Ato mic Force Microscopy (nc-AFM2010)
  • 発表場所: 石川県立音楽堂(石川県)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Nanoscale analysis by combined spectroscopies based on non-contact atomic force microscopy under a bias voltage (2010)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子
  • 学会等名: 13th International Conference on Noncontact Ato mic Force Microscopy (nc-AFM2010)
  • 発表場所: 石川県立音楽堂(石川県)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] FM-AFMによるテルフタルアルデヒド分子の結合特性評価 (2010)
  • 著者名/発表者名: 山谷寛, 新井豊子, 村田英幸
  • 学会等名: 第57回応用物理学関連連合講演会
  • 発表場所: 東海大学(神奈川県)
• [学会発表] Si(100)と(111)表面上のジアミノパラターフェニル分子の吸着状態の比較 (2010)
  • 著者名/発表者名: 西村高志, 村田英幸, 笹原亮, 新井豊子, 富取正彦
  • 学会等名: 第57回応用物理学関連連合講演会
  • 発表場所: 東海大学(神奈川県)
• [学会発表] SPMとその関連技術による力学分光とトンネル分光 (2010)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子
  • 学会等名: 日本物理学会第65回年次大会
  • 発表場所: 岡山大学(岡山県)
• [学会発表] 走査型トンネル顕微鏡/非接触原子間力顕微鏡で捉えるナノサイエンス (2009)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子
  • 学会等名: 2009年度 日本物理学会北陸支部定例学術講演会特別講演
  • 発表場所: 金沢大学(石川県)
  • 年月日: 2009-12-05
• [学会発表] Surface electron spectroscopy based on nc-AFM with changing bias voltage at closer tip-sample separations (2009)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Kiyohara, K., Sato, T., Tomitori, M.
  • 学会等名: 10th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures(ACSIN10)
  • 発表場所: Granada Conference Centre(Spain)
  • 年月日: 2009-09-22
• [学会発表] 第70回応用物理学会学術講演会シンポジウム「非接触原子間力顕微鏡で拓くナノテク最前線」 (2009)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子, 富取正彦
  • 学会等名: 非接触原子間力顕微鏡による相互作用力・電流・散逸エネルギー測定による表面解析
  • 発表場所: 富山大学(富山県)
  • 年月日: 2009-09-08
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡による相互作用力・電流・散逸エネルギー測定による表面解析 (2009)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子, 富取正彦
  • 学会等名: 第70回応用物理学会学術講演会シンポジウム日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会企画「非接触原子間力顕微鏡で拓くナノテク最前線」
  • 発表場所: 富山大学(富山県)
  • 年月日: 2009-09-08
• [学会発表] From non-contact to atomic scale contact between a Si tip and a Si surface analyzed using an nc-AFM and nc-AFS based instrument (2009)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Kiyohara, K., Sato, T., Kushida, S., Tomitori, M.
  • 学会等名: 12th international conference on noncontact atomic force microscopy(ncAFM2009)
  • 発表場所: Yale Univ.(USA)
  • 年月日: 2009-08-11
• [学会発表] From noncontact to atomic scale contact between a Si tip and a Si surface analyzed using an nc-AFM and nc-AFS based instrument (2009)
  • 著者名/発表者名: T.Arai, K.Kiyohara, T.Sato, S.Kushida, 富取正彦
  • 学会等名: 12th international conference on noncontact atomic force microscopy
  • 発表場所: Yale University (USA)
  • 年月日: 2009-08-10
• [学会発表] 電圧印加非接触原子間力分光法によるSi(111)7×7表面の電子状態解析 (2009)
  • 著者名/発表者名: 佐藤大器
  • 学会等名: 日本物理学会第64回年次大会
  • 発表場所: 立教大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] SPMを利用したSi-Si接合のコンダクタンス測定 (2009)
  • 著者名/発表者名: 清原恒成
  • 学会等名: 日本物理学会第64回年次大会
  • 発表場所: 立教大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] 加工Si探針を用いた非接触原子間力顕微鏡によるInAs(11O)劈開面の大気圧下観察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 鄭淵吉
  • 学会等名: 2009年春季第56回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 筑波大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] アミノ化p-terphenyl誘導体のSi(111)7×7表面上の結合状態のSTMとXPSによる評価 (2009)
  • 著者名/発表者名: 西村高志
  • 学会等名: 2009年春季第56回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 筑波大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] 大気中DNAを試料とした引力モード周波数変調原子間力顕微鏡の画像化機構の考察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 橋本健吾
  • 学会等名: 2009年春季第56回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 筑波大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] 環境制御雰囲気下でのFM-AFM(I) (2009)
  • 著者名/発表者名: 山谷寛
  • 学会等名: 2009年春季第56回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 筑波大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] ペンシル型SPM一超高分解能SEMを用いた探針成長の″その場″高温観察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 大石直樹
  • 学会等名: 2009年春季第56回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 筑波大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡法/分光法のための水晶振動子カセンナーの開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 堀健一郎
  • 学会等名: 2009年春季第56回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 筑波大学
  • 年月日: 2009-03-30
• [学会発表] SEM-SPMを用いたPt系探針と融解G6粒子の接触・切断過程のその場観察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 富取正彦, 大石直樹, 笹原亮, 谷正安, 新井豊子
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会第65回学術講演会
  • 発表場所: 仙台国際センター(宮城県)
• [学会発表] From non-contact to atomic scale contact between a Si tip and a Si surface analyzed using an nc-AFM and nc-AFS based instrument (2009)
  • 著者名/発表者名: Toyoko Arai, Kosei Kiyohara, Taiki Sato, Shugaku Kushida, Masahiko Tomitori
  • 学会等名: 12th international conference on noncontact atomic force microscopy(ncAFM2009)
  • 発表場所: Yale大学(米国)
• [学会発表] Development of quartz force sensors for noncontact atomic force microscopy/spectroscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Kenichirou Hori, Toyoko Arai, Masahiko Tomitori
  • 学会等名: 12th international conference on noncontact atomic force microscopy(ncAFM2009)
  • 発表場所: Yale大学(米国)
• [学会発表] Nc-AFM study of a cleaved InAs(110) surface using modified Si probes under ambient atmopsheric pressure (2009)
  • 著者名/発表者名: Yonkil Jeong, Masato Hirade, Ryohei Kokawa, Hirofumi Yamada, Kei Kobayashi, Noriak Oyabu, Hiroshi Yamatani, Toyoko Arai, Akira Sasahara, Masahiko Tomitori
  • 学会等名: 12th international conference on noncontact atomic force microscopy(ncAFM2009)
  • 発表場所: Yale大学(米国)
• [学会発表] Surface electron spectroscopy based on nc-AFM with changing bias voltage at closer tip-sample separations (2009)
  • 著者名/発表者名: Toyoko Arai, Kosei Kiyohara, Taiki Sato, Shugaku Kushida, Masahiko Tomitori
  • 学会等名: 10th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures(ACSIN10)
  • 発表場所: Granada Conference Centre, Granada(スペイン)
• [学会発表] Evaluation of binding states of p-terphenyls with amino groups on Si(111)7x7 using STM and XPS (2009)
  • 著者名/発表者名: 西村高志, 笹原亮, 村田英幸, 新井豊子, 富取正彦
  • 学会等名: 10th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures(ACSIN10)
  • 発表場所: Granada Conference Centre, Granada(スペイン)
• [学会発表] Si単結晶表面上のジアミノターフェニル分子の吸着状態 (2009)
  • 著者名/発表者名: 西村高志, 村田英幸, 笹原亮, 新井豊子, 富取正彦
  • 学会等名: 表面・界面スペクトロスコピー2009
  • 発表場所: 定山渓ホテルミリオーネ(北海道)
• [学会発表] Current-Voltage Characteristics of a Si Point Contact between a Si Tip and a Si Substrate (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Arai
  • 学会等名: 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM16)
  • 発表場所: 熱川ハイツ
  • 年月日: 2008-12-11
• [学会発表] Analysis of electronic resonant states by simultaneously measuring force, current and damping energy with bias -voltagenc-AFS (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Kushida
  • 学会等名: 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM16)
  • 発表場所: 熱川ハイツ
  • 年月日: 2008-12-11
• [学会発表] 超高分解能SEM-SPM複合器によるGe粒子融解操作過程のその場観察 (2008)
  • 著者名/発表者名: 大石直樹
  • 学会等名: 第28回表面科学学術講演会
  • 発表場所: 早稲田大学
  • 年月日: 2008-11-13
• [学会発表] 電圧印加非接触原子間力分光法による探針-試料問電子状態解析 (2008)
  • 著者名/発表者名: 串田修学
  • 学会等名: 日本物理学会 2008年秋季大会
  • 発表場所: 岩手大学
  • 年月日: 2008-09-20
• [学会発表] Surface electron spectroscopy based on nc-AFM with changing bias voltage (2008)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Kushida, S., Kiyohara, K., Tomitori, M.
  • 学会等名: 11th international conference on noncontact atomic force microscopy(ncAFM2008)
  • 発表場所: Hotel Rafael Atocha, Madrid(Spain)
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Surface electron spectroscopy based on nc-AFM with changing bias voltage (2008)
  • 著者名/発表者名: T.Arai, S.Kushida, K.Kiyohara, M.Tomitori
  • 学会等名: 11th international conference on noncontact atomic force microscopy
  • 発表場所: Hotel Rafael Atocha, (Spain)
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Surface electron spectroscopy based on nc -AFM with changingbias voltage (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Arai
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid (Spain)
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Nanopillar growth of Ge on a Si tip in inert gas under atmospheric pressure (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Hirade
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid (Spain)
  • 年月日: 2008-09-16
• [学会発表] Si(111)7x7 表面上に室温蒸着した4, 4" -diamino-p-terphenyl の熱処理効果 (2008)
  • 著者名/発表者名: 西村高志
  • 学会等名: 2008年秋季第69回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 中部大学
  • 年月日: 2008-09-02
• [学会発表] Current-Voltage Characteristics with Staircases of a Si Point Contact between a Si Tip and a Si Substrate (2008)
  • 著者名/発表者名: Arai, T., Kiyohara, K., Kushida, S., Tomitori, M.
  • 学会等名: International Conference on Nanoscience^+Technology(ICN+T 2008)
  • 発表場所: Keystone(USA)
  • 年月日: 2008-07-20
• [学会発表] STM and XPS study of 4, 4″ -diamino-p-terphenyl adsorbed on Si(111)-(7×7) (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Nishimura
  • 学会等名: International Conference on Nanoscience +Technology (ICN+T 2008)
  • 発表場所: Keystone, olorado(USA)
  • 年月日: 2008-07-20
• [学会発表] Current-Voltage Characteristics with Staircases of a Si Point Contact between a Si Tip and a Si Substrat e (2008)
  • 著者名/発表者名: T. Arai
  • 学会等名: International Conference on Nanoscience +Technology (ICN+T 2008)
  • 発表場所: Keystone, Colorado (USA)
  • 年月日: 2008-07-20
• [図書] 走査プローブ顕微鏡.正しい実験とデータ解析のために必要なこと- (2009)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子
  • 出版者: 共立出版
• [図書] 走査プローブ顕微鏡-正しい実験とデータ解析のために必要なこと-(責任編集:重川秀実、吉村雅満、河津璋)発展編第10章「非接触AFMの発展」) (2009)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子(分担執筆)
  • 出版者: 共立出版
• [図書] 実験物理科学シリーズ6"走査プローブ顕微鏡「発展編 第10章 非接触AFMの展開」"(重川秀美、吉村雅満、河津璋編) (2009)
  • 著者名/発表者名: 富取正彦、新井豊子(分担執筆)
  • 総ページ数: 425
  • 出版者: 共立出版
• [図書] 実験物理科学シリーズ6 "走査プローブ顕微鏡一正しい実験とデータ解析のために必要なこと-" 発展編 第10章「非接触AFMの展開」 (2008)
  • 著者名/発表者名: 新井豊子(共著)
  • 総ページ数: 425
  • 出版者: 共立出版株式会社
• [備考]
  • URL: http://nanophys.w3.kanazawa-u.ac.jp/
• [備考]
  • URL: http://nanophys.w3.kanazawa-u.ac.jp/
• [備考] ホームページ
  • URL: http://www.s.kanazawa-u.ac.jp/~nanophys/
• [備考]
  • URL: http://www.s.kanazawa-u.ac.jp/~nanophys/
• [備考]
  • URL: http://www.s.kanazawa-u.ac.jp/~nanophys/
• [産業財産権] ポジショニング機構、及び、それを用いた顕微鏡 (2010)
  • 発明者名: 富取正彦、新井豊子、中榮穣
  • 権利者名: 北陸先端科学技術大学院大学
  • 出願年月日: 2010-12-17
• [産業財産権] Positioning mechanism and microscope with the same (2010)
  • 発明者名: 富取正彦、新井豊子、中榮穣
  • 権利者名: 北陸先端科学技術大学院大学
  • 出願年月日: 2010-03-02
  • 外国
• [産業財産権] Positioning mechanism and microscope with the same(ポジショニング機構、及び、それを用いた顕微鏡) (2010)
  • 発明者名: 富取正彦、新井豊子、中榮穣
  • 権利者名: 北陸先端科学技術大学院大学
  • 取得年月日: 2010-03-02
• [産業財産権] Positioning mechanism and microscope with the same (2010)
  • 発明者名: 富取正彦、新井豊子、中榮穣
  • 権利者名: 北陸先端科学技術大学院大学
  • 取得年月日: 2010-03-02
  • 外国