| 研究課題/領域番号 |
20350041
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
分析化学
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| 研究機関 | 独立行政法人物質・材料研究機構 |
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研究代表者 |
櫻井 健次 独立行政法人物質・材料研究機構, 量子ビームセンター, グループリーダー (00354176)
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| 研究協力者 |
江場 宏美 東京都市大学, 準教授
水沢 多鶴子 独立行政法人物質・材料研究機構, 研究業務員
小林 俊一 筑波大学, 大学院生
HSU Hsiang-Han 筑波大学, 大学院生
SAMSON Vallerie Ann Innis 筑波大学, 大学院生
JERAB Martin Charles Univ in Prague, 大学院生
MAREK Vysinka Charles Univ in Prague, 大学院生
JAKUB Vaverka Charles Univ in Prague, 大学院生
ZHANG Yang-Ping 独立行政法人物質・材料研究機構, 研修生
GLESAAEN Jonnas Rylund 独立行政法人物質・材料研究機構, 研修生
OGER Kevin 独立行政法人物質・材料研究機構, 研修生
BICER Mehmet 独立行政法人物質・材料研究機構, 研修生
CHANG Emma 独立行政法人物質・材料研究機構, 研修生
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
19,240千円 (直接経費: 14,800千円、間接経費: 4,440千円)
2010年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
2009年度: 12,740千円 (直接経費: 9,800千円、間接経費: 2,940千円)
2008年度: 3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
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| キーワード | 分析・計測 / X線技術 / 可視化 / イメージング / 原子レベル構造 |
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| 研究概要 |
本研究では、内部にさまざまな不均一な分布を持つ試料の結晶構造、原子レベルの局所構造、価数、電子状態等の構造情報を複眼的に取得する方法として、X線回折とX線吸収微細構造(XAFS)を組み合わせた新しいX線イメージング技術の開発を行った。結晶-アモルファス混合系の構造イメージング、メタル-酸化物系等の価数イメージング、コンビナトリアルイメージングへの展開を検討した。
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