研究課題/領域番号 |
20540326
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
物性Ⅰ
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研究機関 | (財)高輝度光科学研究センター |
研究代表者 |
岡田 京子 (財)高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 研究員 (70399616)
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研究分担者 |
中村 哲也 (財)高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 主幹研究員 (70311355)
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研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2010年度: 520千円 (直接経費: 400千円、間接経費: 120千円)
2009年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2008年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
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キーワード | 軟X線 / X線検出器 / 放射光 / 磁性 / 高速時分割測定 / ダイナミクス計測 / APD(アバランシェフォトダイオード) / XMCD(磁気円二色性) |
研究概要 |
軟X線を高精度・高速・広ダイナミックレンジでエネルギー分解型フォトンカウンティングする、小型の軟X線用高速APD測定器システムの開発を行った。軟X線領域での測定器システムの開発に存在する様々な技術的バリアを克服した、小型の軟X線用高速APD測定器システムの開発を行ない、目標とする性能を達成した。さらに、測定素子を、検出器としての理解と共に、物性的・材料学的にも理解した上で改良する事により、この測定器システムの特性と軟X線磁気円二色性(XMCD)を組み合わせて、スピントロニクス材料に含まれる特定元素の磁気情報を選択的に、かつ定量的に探ることができることを明らかにした。
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