研究課題/領域番号 |
20540366
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
数理物理・物性基礎
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研究機関 | 新潟大学 |
研究代表者 |
丸山 健二 新潟大学, 自然科学系, 准教授 (40240767)
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研究分担者 |
大鳥 範和 新潟大学, 自然科学系, 教授 (20272859)
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研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2010年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2009年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2008年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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キーワード | X線回折 / 液体カルコゲン / 液体構造解析 / 中距離構造 / 液体の構造 / 粒子線散乱 / 空隙 |
研究概要 |
液体セレンおよび液体セレン-テルル混合系は温度・組成変化によって半導体-金属転移を生じる。この転移の機構を構造の観点から明らかにするためにSPring8の高温高圧ビームラインBL28B2を用いてX線散乱測定をおこなった。中距離に及ぶ構造解析を行うために散乱データをもとに逆モンテカルロ法とDelaunay分割法により液体中の空隙構造解析を行う方法を開発した。この結果カルコゲンがラセン鎖からジグザグ鎖や環へ構造を変化させながら転移が生じることを見出した。
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