| 研究課題/領域番号 |
20540393
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
原子・分子・量子エレクトロニクス
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| 研究機関 | 独立行政法人情報通信研究機構 |
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研究代表者 |
秋葉 誠 独立行政法人情報通信研究機構, 新世代ネットワークセンター量子ICTグループ, 主任研究員 (80184109)
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| 連携研究者 |
澤田 和明 豊橋技術科学大学, 工学部, 教授 (40235461)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2010年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2009年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2008年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
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| キーワード | アバランシェフォトダイオード / 光子検出 / 高光検出効率 / 低暗計数 / 超高感度 / 低雑音読み出し技術 / 低雑音読み出し回路 / 出力電子数分布 |
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| 研究概要 |
低暗計数・高光検出効率光子検出システムを開発するために、線型増倍層を持つ数種類のアバランシェフォトダイオード(APD)とAPD測定用温度可変低雑音測定システムを製作した。その結果、暗計数に関してはpin接合のAl_<0.9>Ga_<0.1>As/GaAs APDを使用すれば0.1カウント/秒以下の値を達成できる可能性があることが分かった。一方、高光検出効率化に関しては所期の性能(90%以上)を確認するに至っていない。
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