| 研究課題/領域番号 |
20550009
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物理化学
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| 研究機関 | お茶の水女子大学 |
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研究代表者 |
近藤 敏啓 お茶の水女子大学, 大学院・人間文化創成科学研究科, 教授 (70240629)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2010年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2009年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2008年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
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| キーワード | 電気化学 / 表面X線散乱法 / 固 / 液界面 / 単結晶電極 / 表面・界面物性 / ナノ材料 / 構造・機能材料 / 触媒・化学プロセス / 複合材料・物性 / 共鳴表面X線散乱法 / 超精密計測 / 高速測定 |
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| 研究概要 |
本研究では、固/液界面(電気化学)系に放射光利用表面X線散乱(Surface X-ray Scattering ; SXS)法を適用し、Au(111)単結晶上に形成させたAgUPD2層膜の安定性、Au(111)上Ag UPD2層膜上に形成させたアルキルチール自己組織化単分子層の還元脱離によるAg 原子の溶解過程、Au(111)およびAu(100)上へのPd層の電析過程、およびAu(111)単結晶上に形成させたPt 単原子層の原子配列などの界面構造/界面原子配列変化を詳細に追跡/決定した。
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