| 研究課題/領域番号 |
20550015
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物理化学
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
吉田 弘幸 京都大学, 化学研究所, 助教 (00283664)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2011年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2010年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2009年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2008年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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| キーワード | 有機半導体 / 有機・金属界面 / 電子構造 / 角度分解X線光電子分光法 / 多変量解析 / 表面電気二重層 / 分子性固体 / 分極エネルギー / 角度分析X線光電子分光法 / 埋もれた界面 / 真空準位 / target factor analysis / 変量解析 / スピントロニクス / 薄膜構造 |
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| 研究概要 |
有機半導体と金属界面の電子構造を光電子分光法により調べた。特に、X線光電子分光法の測定データと多変量解析(target factor analysis)を組み合わせることで、物質の内殻エネルギー準位を深さの関数として調べる新しい解析法を開発した。この方法により、有機半導体と金属の埋もれた界面の電子構造を調べることに成功した。さらに、有機半導体(固体)の表面とバルクにエネルギー準位が0. 3 eV程度あることを証明する実験的証拠を提出し、近年の論争に決着をつけただけでなく、そのエネルギー差の起源についても研究を進めた。
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