研究課題/領域番号 |
20550088
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
分析化学
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研究機関 | 立命館大学 |
研究代表者 |
渡辺 巖 (渡邊 巖) 立命館大学, 総合理工学研究機構, 教授 (50028239)
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研究分担者 |
小島 一男 立命館大学, 生命科学部, 教授 (30131311)
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連携研究者 |
石井 秀司 立命館大学, 総合理工学研究機構, チェアプロフェッサー (30251466)
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研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2010年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2009年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2008年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
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キーワード | 状態分析 / 分析科学 / 計測工学 / 軟X線分光 / 軽元素 / XAFS / 放射光科学 / Liイオン電池 / ボロン化合物 / Li電池 |
研究概要 |
現在、エネルギーの有効利用のためのリチウムイオン蓄電池の性能向上が緊急の課題である。この蓄電池の性能向上を図るには、構成材料について、多くの基礎的な物質情報が必要である。このような軽元素を含む試料に最適な超ソフトX線分光分析法の開発を行った。その結果、実際の蓄電池材料や他の軽元素含有試料の電子状態に関する多くの情報を得ることができた。
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