研究課題
基盤研究(C)
高分子系複合材料の無染色電子顕微鏡観察法として、走査型透過電子顕微鏡による円環状検出暗視野法(ADF-STEM)の有効性を検討しナノスケール構造相の定量的な分析方法として確立した。ADF-STEM法によりミクロ相間のコントラスト形成に成功し、像シミュレーションによりミクロ相の微小な密度差がコントラストの主要な成因であることを結論した。更に、ナノスケール構造相の密度測定が可能であることが期待され、例えばミクロ相でのガラス転移点の同定が可能であることを示した。
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