研究課題/領域番号 |
20560097
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
機械材料・材料力学
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研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
研究代表者 |
鈴木 隆之 独立行政法人産業技術総合研究所, 先進製造プロセス研究部門, 研究グループ長 (40357299)
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研究分担者 |
西村 良弘 独立行政法人産業技術総合研究所, 先進製造プロセス研究部門, 主任研究員 (90357723)
笹本 明 独立行政法人産業技術総合研究所, 先進製造プロセス研究部門, 主任研究員 (90357129)
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研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2010年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2009年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2008年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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キーワード | 機械材料・材料力学 / 磁性 / 長寿命化 / 非破壊検査 / 欠陥 / 悲破壊検査 |
研究概要 |
複雑形状き裂、欠陥の定量的な評価を行うために、フラックスゲートセンサのような先進磁気センサを用いて、様々な欠陥近傍の漏洩磁束密度分布の測定を行った。また、得られた漏洩磁束密度分布と欠陥に生じる磁荷、磁気双極子モーメントとの関係を定式化し、漏洩磁束密度分布から複雑形状欠陥の欠陥幅や欠陥断面形状を求める電磁逆解析を行った。さらに、先進磁気せんさを用いた漏洩磁束密度測定と電磁逆解析とを統合することにより、複雑形状き裂、欠陥に適用可能な非破壊評価・解析システムを構築した。
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