| 研究課題/領域番号 |
20560306
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
電子・電気材料工学
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| 研究機関 | 首都大学東京 |
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研究代表者 |
鈴木 敬久 首都大学東京, 理工学研究科, 准教授 (30336515)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2010年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2009年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2008年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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| キーワード | 高エネルギー粒子 / 誘電体物性 / 感温液晶マイクロカプセル / 高エネルギー粒子線 |
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| 研究概要 |
本研究課題では高分子材料への高エネルギー電子線照射を実験と数値計算で検討を行った.新しい手法として感温液晶マイクロカプセル法を電子線照射実験に適用し,試料内の温度分布の可視化と定量化を行った.また一方ではこの実験の理論解析モデルを構築し,モンテカルロ法に基づいたシミュレーションコードを開発した.これらの実験結果とシミュレーション結果を比較することが行え.それらの結果が比較的良い一致を示すことがわかった.
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