| 研究課題/領域番号 |
20560771
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
原子力学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
岩井 岳夫 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助教 (30272529)
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| 連携研究者 |
阿部 弘亨 東北大学, 金属材料研究所, 教授 (40343925)
土田 秀次 京都大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (50304150)
鬼塚 貴志 日本原子力研究開発機構, 研究員 (90422336)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2011年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2010年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2009年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2008年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
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| キーワード | 原子力材料 / 陽電子消滅法 / 鉄 / dpa / カスケード損傷 / NRTdpa / はじき出し損傷効率 / イオン照射 / 電気抵抗法 |
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| 研究概要 |
原子力材料の照射損傷機構の基礎となるはじき出し損傷初期過程に関する知見を得ることを目的として、低温でのイオン照射と陽電子ビームおよび電気抵抗測定を組み合わせた研究を実施した。はじき出し損傷効率や点欠陥およびそのクラスターの移動ステージなど、欠陥初期過程における重要な現象についての知見を得た。
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