| 研究課題/領域番号 |
20592266
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
補綴系歯学
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| 研究機関 | 岡山大学 |
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研究代表者 |
白井 肇 岡山大学, 岡山大学病院, 講師 (00263591)
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| 研究分担者 |
鳥井 康弘 岡山大学, 岡山大学病院, 教授 (10188831)
皆木 省吾 岡山大学, 大学院・医歯薬学総合研究科, 教授 (80190693)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2010年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2009年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2008年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
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| キーワード | インプラント / 界面 / 歯学 |
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| 研究概要 |
インプラント/生体組織界面におけるナノレベルの結合様式については、未だ全く明らかになっていない。従来の試料作製法では、インプラントと骨が剥離するため、電子顕微鏡レベルでのインプラント/生体組織界面の観察は極めて困難であった。
本研究の結果、アルゴンイオンによるイオン研磨法とFocused Ion Beam (FIB)による試料作製法との組み合わせによって、観察部位を特定した上で、電子顕微鏡レベルでのインプラント/生体組織界面を、破壊しないまま観察することが可能となった。
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