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安全性と製造検査容易性の両立したLSI設計方法の研究法の研究

研究課題

研究課題/領域番号 20700050
研究種目

若手研究(B)

配分区分補助金
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関九州大学

研究代表者

吉村 正義  九州大学, 大学院・システム情報科学研究院, 助教 (90452820)

研究期間 (年度) 2008 – 2010
研究課題ステータス 完了 (2010年度)
配分額 *注記
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2010年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2009年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2008年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
キーワードVLSI設計技術 / 設計自動化 / ディペンダブルコンピューティング / 暗号・認証等 / テスト容易化設計 / システム / 安全 / ディペンダブル・コンピユーフィング / システムLSI / 安全性 / ディペンダブル・コンピューティング
研究概要

LSI(大規模集積回路)の信頼性の項目である安全性と製造検査容易性は両立が困難である。まず安全性を阻害する要因を明確にした。次に,安全性を阻害しない範囲で製造検査容易性を向上する技術を開発した。この2つの技術に基づいて、LSIの安全性と製造検査容易性を両立させる設計手法を構築した。秘密情報が含まれる3種類の標準的な暗号回路に対して、この設計手法を適用し、効果を確認した。

報告書

(4件)
  • 2010 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2009 実績報告書
  • 2008 実績報告書
  • 研究成果

    (48件)

すべて 2011 2010 2009 2008 その他

すべて 学会発表 (47件) 備考 (1件)

  • [学会発表] A Multiple-Bit-Upset Tolerant 8T SRAM Cell Layout with Divided Word line Structure2011

    • 著者名/発表者名
      S.Yoshimoto, et al
    • 学会等名
      7th Workshop on Silicon Errors in Logic-System Effects
    • 発表場所
      アメリカ
    • 年月日
      2011-03-31
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] An SER Analysis Method for Sequential Circuits2011

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura, et al
    • 学会等名
      7th Workshop on Silicon Errors in Logic-System Effects
    • 発表場所
      アメリカ
    • 年月日
      2011-03-30
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] EDA tools for soft error tolerance2011

    • 著者名/発表者名
      So Hasegawa, et al
    • 学会等名
      Design Automation and Test in Europe (DATE'11)Exhibition, University Booth
    • 発表場所
      フランス
    • 年月日
      2011-03-16
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのパス選択法2011

    • 著者名/発表者名
      柏崎智史, et al
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都)
    • 年月日
      2011-02-14
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法2011

    • 著者名/発表者名
      早川鉄平, et al
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都)
    • 年月日
      2011-02-14
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 製造ばらつきを考慮したVLSIのフィールドテスト法2011

    • 著者名/発表者名
      柏崎智史, et al
    • 学会等名
      FTC研究会
    • 発表場所
      かんぽの宿 恵那(岐阜県)
    • 年月日
      2011-01-21
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] テスト圧縮のためのテスト生成に関する一考察2011

    • 著者名/発表者名
      山崎達也, et al
    • 学会等名
      FTC研究会
    • 発表場所
      かんぽの宿 恵那(岐阜県)
    • 年月日
      2011-01-20
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] A Comprehen sive Functional Time Expansion M odel Generation Method for Datap aths Using Controllers2010

    • 著者名/発表者名
      Toshinori Hosokawa
    • 学会等名
      11th Worksh op on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Shanghai, China.
    • 年月日
      2010-12-06
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] A Comprehensive Functional Time Expansion Model Generation Method for Datapaths Using Controllers2010

    • 著者名/発表者名
      Toshinori Hosokawa, et al
    • 学会等名
      11th Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      中華人民共和国
    • 年月日
      2010-12-06
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] キャプチャ時低消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法2010

    • 著者名/発表者名
      沈揚, et al
    • 学会等名
      デザインガイア2010
    • 発表場所
      九州大学医学部百年講堂(福岡県)
    • 年月日
      2010-11-29
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] An estimati on of encryption LSI testability ag ainst scan-based attack2010

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura
    • 学会等名
      An estima tion of encryption LSI testability a gainst scan-based attack
    • 発表場所
      Tokyo, Japan.
    • 年月日
      2010-10-28
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] An estimation of encryption LSI testability against scan-based attack2010

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura, et al
    • 学会等名
      International Symposium on Communications and Information Technologies 2010
    • 発表場所
      明治大学(東京都)
    • 年月日
      2010-10-28
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] A Test Pattern Matching Method on BAST Architecture Using Don't Care Identification for Random Pattern Resistant Faults2010

    • 著者名/発表者名
      Toshinori Hosokawa, et al
    • 学会等名
      International Symposium on Communications and Information Technologies 2010
    • 発表場所
      明治大学(東京都)
    • 年月日
      2010-10-28
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] ソフトエラーに起因するパルスのラッチ確率のモデル化2010

    • 著者名/発表者名
      平田元春, et al
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      京都工芸繊維大学(京都府)
    • 年月日
      2010-09-28
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 順序回路のソフトエラー耐性評価手法の高速化2010

    • 著者名/発表者名
      吉村正義, et al
    • 学会等名
      DAシンポジウム2010
    • 発表場所
      ホテル日航豊橋(愛知県)
    • 年月日
      2010-09-03
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] ソフトエラー耐性と面積オーバーヘッドのトレードオフを考慮したTMRをベースとしたエラー訂正手法2010

    • 著者名/発表者名
      原田翔次, et al
    • 学会等名
      DAシンポジウム2010
    • 発表場所
      ホテル日航豊橋(愛知県)
    • 年月日
      2010-09-03
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] デバイスシミュレータを用いた論理回路のソフトエラー解析2010

    • 著者名/発表者名
      小津和大昌, et al
    • 学会等名
      DAシンポジウム2010
    • 発表場所
      ホテル日航豊橋(愛知県)
    • 年月日
      2010-09-03
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法2010

    • 著者名/発表者名
      陳贇, et al
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都)
    • 年月日
      2010-06-25
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] TMR based Error Correction Method Considering Trade-off between Area and Soft-Error Tolerance2010

    • 著者名/発表者名
      Shoji Harada, et al
    • 学会等名
      19th International Workshop on Logic and Synthesis 2010, pp.69-75, University of California Irvine
    • 発表場所
      アメリカ
    • 年月日
      2010-06-18
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 順序回路のソフトエラー耐性評価における高精度な近似評価手法2010

    • 著者名/発表者名
      城林直樹, et al
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県)
    • 年月日
      2010-05-19
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 有限状態機械の分割に基づく定常状態確率の近似計算手法2010

    • 著者名/発表者名
      長谷川創, et al
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県)
    • 年月日
      2010-05-19
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Evaluation of Transition Untestable Faults Using a Multi-Cycle Capture Test Generation Method2010

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura, et al
    • 学会等名
      13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
    • 発表場所
      オーストリア
    • 年月日
      2010-04-14
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 順序回路のソフトエラー耐性評価手法の状態数削減による高速化2010

    • 著者名/発表者名
      赤峰悠介
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄県男女共同参画センター
    • 年月日
      2010-03-12
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析2010

    • 著者名/発表者名
      小河宏志
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2010-02-15
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法2010

    • 著者名/発表者名
      湯本仁高
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2010-02-15
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計2009

    • 著者名/発表者名
      早川鉄平
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-04
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書 2009 実績報告書
  • [学会発表] テスト圧縮指向ドントケア抽出法2009

    • 著者名/発表者名
      若園大洋
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-04
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] スキャンベース攻撃とその防御法に対する定量的なセキュリティ評価2009

    • 著者名/発表者名
      伊藤侑磨
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-03
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書 2009 実績報告書
  • [学会発表] 順序回路のソフトエラー耐性評価における近似手法の計算精度および実行時間の評価2009

    • 著者名/発表者名
      赤峰悠介
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-03
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] マルコフモデルを用いた順序回路のソフトエラー耐性評価手法2009

    • 著者名/発表者名
      赤峰悠介
    • 学会等名
      DAシンポジウム2009
    • 発表場所
      ホテルアローレ
    • 年月日
      2009-08-26
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] タイミング冗長故障判定を考慮した遷移故障テスト生成法2009

    • 著者名/発表者名
      小河宏志
    • 学会等名
      第61回FTC研究会
    • 発表場所
      奥伊勢フォレストピア
    • 年月日
      2009-07-17
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] ケアビット分布制御のためのドントケア抽出技術2009

    • 著者名/発表者名
      若園大洋
    • 学会等名
      第61回FTC研究会
    • 発表場所
      奥伊勢フォレストピア
    • 年月日
      2009-07-17
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法2009

    • 著者名/発表者名
      小河宏志
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      北九州国際会議場
    • 年月日
      2009-05-20
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] SER評価のための論理回路におけるパルスの伝搬解析2009

    • 著者名/発表者名
      原田翔次
    • 学会等名
      ディペンダプルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • 年月日
      2009-04-21
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] 算術演算器を含む回路に対する高速なソフトエラー率評価手法2009

    • 著者名/発表者名
      平田元春
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • 年月日
      2009-04-21
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] セルベース設計に適したSER評価の為のパルス発生確率解析手法2009

    • 著者名/発表者名
      小津和大昌
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • 年月日
      2009-04-21
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] ディペンダブルVLSI設計技術への挑戦2009

    • 著者名/発表者名
      松永裕介
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      愛媛県松山市
    • 年月日
      2009-03-18
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] Design For Testability Methods against Scan based Attacks2008

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi YOSHIMURA
    • 学会等名
      Joint Seminar on Advanced LSI Test Technology
    • 発表場所
      Fukuoka, Japan.
    • 年月日
      2008-12-01
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] A Test Generation Method for Datapath Circuits Using Functional Time Expansion Models2008

    • 著者名/発表者名
      Kazuya Sugiki
    • 学会等名
      9th Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Sapporo, Japan.
    • 年月日
      2008-11-28
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] A Test Generation Method for Datapath Circuits Using Functional T imp Rynansinn Modpls2008

    • 著者名/発表者名
      Kazuya Sugiki
    • 学会等名
      9th Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2008-11-28
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] A Bit flipping Reduction Method for Pseudo-random Patterns Using Don't Care Identification on BAST Architecture2008

    • 著者名/発表者名
      LingLing WAN
    • 学会等名
      9th Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2008-11-28
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] Design For Testability Methods against Scan based Attacks2008

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi YOSHIMURA
    • 学会等名
      Joint Seminar on Advanced LSI Test Technology
    • 発表場所
      Fukuoka, Japan
    • 年月日
      2008-11-01
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 暗号LSIにおけるテスタビリティとセキュリティに関する一考察2008

    • 著者名/発表者名
      伊藤侑磨
    • 学会等名
      第59回FTC研究会
    • 発表場所
      石川県羽咋市
    • 年月日
      2008-07-19
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 機能的時間展開モデルを用いたデータパスのテスト生成法2008

    • 著者名/発表者名
      杉木一也
    • 発表場所
      石川県羽咋市
    • 年月日
      2008-07-19
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] 暗号LSIにおけるテスタビリティとセキュリティに関する一考察2008

    • 著者名/発表者名
      伊藤侑磨
    • 学会等名
      第59回FTC研究会
    • 発表場所
      石川県, 羽咋市
    • 年月日
      2008-07-19
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 機能的時間展開モデルを用いたデータパスのテスト生成法2008

    • 著者名/発表者名
      杉木一也
    • 学会等名
      第59回FTC研究会
    • 発表場所
      石川県,羽咋市
    • 年月日
      2008-07-19
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] BASTアーキテクチャにおけるドントケア抽出を用いた擬似ランダムパターンのビット反転数削減の一手法2008

    • 著者名/発表者名
      万玲玲
    • 学会等名
      第59回FTC研究会
    • 発表場所
      石川県, 羽咋市
    • 年月日
      2008-07-19
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [備考] ホームページ等

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書

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公開日: 2008-04-01   更新日: 2016-04-21  

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