| 研究課題/領域番号 |
20710047
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
放射線・化学物質影響科学
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| 研究機関 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 |
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研究代表者 |
横田 裕一郎 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究員 (30391288)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2010年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2009年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2008年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | 重イオンビーム / 高LET / DNA2本鎖切断 / パルスフィールドゲル電気泳動 / 生物 / 学的効果比 / 限外ろ過 / LET / 電離放射線 / DNA損傷 / ヒト正常線維芽細胞 / 細胞致死効果 |
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| 研究概要 |
高LETの重イオンビームは低LETの放射線と比べて線量あたりの生物効果が大きい。これは、重イオンビームが照射細胞内に修復し難い局所的なDNA損傷を誘発するためと考えられている。一方で、パルスフィールドゲル電気泳動法などの従来実験手法では、放射線照射により誘発される10kbpより短いゲノムDNA断片化を定量できなかった。本研究では、その原因として、10kbpより短いDNA断片の多くはゲノムDNA調整時に実験系から失われることを見出した。
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