2次元イメージ撮像型X線偏光検出器によるLHDプラズマの測定

• 研究課題/領域番号: 20740320
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: プラズマ科学
• 研究機関: 名古屋大学
• 研究代表者: 櫻井 郁也 名古屋大学, 工学研究科, 特任准教授 (10397482)
• 研究期間 (年度): 2008 – 2010
• 研究課題ステータス: 完了 (2010年度)
• 配分額: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円); 2010年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円); 2009年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円); 2008年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
• キーワード: プラズマ / X線 / 偏光計

研究概要

我々は、核融合科学研究所の大型ヘリカル装置(LHD)で行われている高温プラズマ燃焼実験の偏光測定を行うための2次元イメージ撮像型偏光検出器の開発を行った。X線偏光計は、偏光X線のガス中での光電子放出異方性を利用したもので、ガス中に広がった光電子の飛跡情報を得ることができるガス電子増幅(GEM)フォイルを利用している。2次元平面内の飛跡情報を保持したままガス増幅された電子は、その下に設置されたCMOSセンサーと呼ばれるピクセル検出器によって検出される。本研究で用いたCMOSセンサーは、検出面積2.5×2.5cm^2、検出器表面は表面のCdTeレイヤーを取り除く改造を行いガス増幅された電子を直接読みだすピクセル型電荷読み出し検出器として使用した。我々は、偏光計としての予備実験を行い6.4keVのFeKαX線から偏光を示す光電子の放出異方性を検出したが、LHDに取り付けてのプラズマ測定実験の直前にCMOS検出器が放電によって故障し、LHDプラズマの偏光測定は行う事ができなかった。

研究成果

• [雑誌論文] Edge and Core Impurity Transport Study with Spectroscopic Instruments in LHD (2009)
  • 著者名/発表者名: S.Morita, M.Goto, M.Kobayashi, S.Muto, M.B.Chowdhuri, D.Chunfeng, Z.Hangyu, C.Zhengying,K.Fujii, A.Furuzawa, M.Hasuo, A.Iwamae, J.Yinxian, M.Koubiti, I.Sakurai, Y.Tawara, W.Baonian, W.Zhenwei, N.Yamaguchi
  • 雑誌名: Plasma Sci.Technol Vol.11 ページ: 402-408
  • 査読あり
• [雑誌論文] Edge and Core Impurity Transport Study with Spectroscopic Instruments in LHD (2009)
  • 著者名/発表者名: Shigeru Morita
  • 雑誌名: Plasma Science and Technology 11 ページ: 402-408
  • 査読あり