| 研究課題/領域番号 |
20750176
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
高分子・繊維材料
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| 研究機関 | 名古屋工業大学 |
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研究代表者 |
山本 勝宏 名古屋工業大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (30314082)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2009年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2008年度: 2,990千円 (直接経費: 2,300千円、間接経費: 690千円)
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| キーワード | ポリマーアロイ / 高分子構造 / 微小角入射小角X線散乱 / ブロック共重合体 / 階層構造 / 薄膜 / 配向構造 / 相分離構造 / 微小角入射X線散乱 / 構造解析 / 配向挙動 |
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| 研究概要 |
高分子材料が有する階層構造やその形成過程を幅広い空間スケールにわたって同一条件で解析するために、小角および広角X線散乱法を組み合わせた手法が有効である。また、近年のデバイス微小化に伴い、局所的且つ微小領域の構造や物性を知ることが極めて重要である。そのため、これらの要望に有効な手法として、高分子の薄膜の構造解析の手段として、微小角入射法によるSAXS/WAXS同時測定法の確立と、薄膜の階層構造解析を行なった。
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