| 研究課題/領域番号 |
20760024
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
杉本 宜昭 大阪大学, 工学研究科, 特任講師 (00432518)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2009年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2008年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
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| キーワード | 走査型プローブ顕微鏡 / 二酸化チタン / 原子間力顕微鏡 / 原子操作 |
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| 研究概要 |
AFMを用いた新しい計測法である、化学結合力/トンネル電流の同時測定法、局所表面電位の精密測定法、化学結合力空間マッピング法及びそれを利用した元素同定法を開発した。それに加えて、室温原子操作に現れる確率的な原子移動の計測による機構の解明を行い、さらに、交換型垂直原子操作と名づけた新しい原子操作法を見出した。そして、TiO2表面の画像化とフォーススペクトロスコピー測定によって、従来とは異なるAFMの画像化機構であることを提唱した。
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