研究概要 |
本研究では、これまで適切な発生・検出技術が存在せず未踏の領域と呼ばれていたテラヘルツ波に着目し、分光測定に用いることで、新しい反射型テラヘルツ時間領域分光システムを構築・改良し、高温超伝導体の低エネルギーの電子状態を解明することを目的とした。現有するテラヘルツ時間領域分光装置の改良により、測定精度を大幅に向上させることに成功し、高温超伝導体試料La_<2-x>Sr_xCuO_4のx=0.10, 0.12, 0.13, 0.15のc軸偏光反射率の測定から、スピン・電荷のストライプ秩序が報告されているx=0.13の試料でのみ、これまで報告されていないダブルジョセフソンプラズマ的な振る舞いが観測されることを発見した。
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