| 研究課題/領域番号 |
20860024
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| 研究種目 |
若手研究(スタートアップ)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
計測工学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
梶原 優介 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 研究員 (60512332)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
3,289千円 (直接経費: 2,530千円、間接経費: 759千円)
2009年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2008年度: 1,729千円 (直接経費: 1,330千円、間接経費: 399千円)
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| キーワード | パッシブイメージング / 原子間力顕微鏡 / 近接場顕微鏡 / エバネッセント波 / テラヘルツ波 / 中赤外光 / 表面プラズモン / 赤外光 / パッシブ計測 / エバネッセント光 / 近接場光 / 散乱型近接場顕微鏡 / 自然放出光 / テラヘルツ顕微鏡 |
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| 研究概要 |
本研究では,照射光源を利用しないエバネッセントTHz光散乱検出法の確立を目指した.自己検知型AFMを開発してTHzナノ顕微鏡を構築し,自然放出光の近接場イメージングを行った.常温サンプル(GaAs/Au)をイメージングした結果,Au上でGaAs上よりも遥かに大きい近接場応答(室温熱励起された表面プラズモン)が得られた.空間分解能は150nm(波長の1/100)を達成している.
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