原子操作による多元素ナノ構造体の機能制御

• 研究課題/領域番号: 21246010
• 研究種目: 基盤研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 阿部 真之 大阪大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (00362666)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• 研究課題ステータス: 完了 (2011年度)
• 配分額: 16,380千円 (直接経費: 12,600千円、間接経費: 3,780千円); 2011年度: 5,980千円 (直接経費: 4,600千円、間接経費: 1,380千円); 2010年度: 10,400千円 (直接経費: 8,000千円、間接経費: 2,400千円)
• キーワード: 走査プローブ顕微鏡 / 非接触原子間力顕微鏡 / 原子操作 / ナノ構造 / 多元素ナノ構造 / 原子間力顕微鏡 / AFM / STM / AFM/STM同時測定 / フォーススペクトロスコピー / STM同時測定

研究概要

多元素ナノ構造体の作成・組み替えを行い、局所状態の物性計測を行いながら、その機能を制御する手法を確立した。具体的には、非接触原子間力顕微鏡を用い、フォーススペクトロスコピーやフォースマッピングといった原子識別に利用できる相互作用力の定量測定技術等と局所電子状態測定との同時測定から、原子レベルで、ナノ構造体の構成元素と幾何学構造、局所状態の関係について明らかにできることを示した。

研究成果

• [雑誌論文] Understanding image contrast formation in TiO_2 with force spectroscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: Ayhan Yurtsever, Delia Fernandez-Torre, Cesar Gonzalez, Pavel Jelinek, Pablo Pou, Yoshiaki Sugimoto, Masayuki Abe, Ruben Perez and Seizo Morita
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: Vol.85(Issue 12) 号: 12
  • DOI: 10.1103/physrevb.85.125416
  • 査読あり
• [雑誌論文] Three-dimensional scanning force / tunneling spectroscopy at room temperature (2012)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto, Keiichi Ueda, Masayuki Abe and Seizo Morita
  • 雑誌名: J. Phys.: Condens. Matter 巻: Vol.24, No.8 号: 8 ページ: 084008-084008
  • DOI: 10.1088/0953-8984/24/8/084008
  • 査読あり
• [雑誌論文] Kelvin probe force microscopy Characterization of TiO_2(110)-supported Au clusters (2011)
  • 著者名/発表者名: Hong Jing Chung
  • 雑誌名: APPLIED PHYSICS LETTERS 巻: Vol.99 号: 12
  • DOI: 10.1063/1.3641418
  • 査読あり
• [雑誌論文] Alkali-metal adsorption and manipulation on hydroxylated TiO_2(110) surface using atomic force microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: A.Yurtsever, Y.Sugimoto, M.Abe, K.Matsunaga, I.Tanaka, S.Morita
  • 雑誌名: PHYS.REV.B 巻: 84 号: 8
  • DOI: 10.1103/physrevb.84.085413
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous scanning force/tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Morita
  • 雑誌名: Appl.Phys.Exp. 巻: Vol.4 号: 11 ページ: 115201-115201
  • DOI: 10.1143/apex.4.115201
  • NAID: 10030153803
  • 査読あり
• [雑誌論文] Fabrication of Quartz Cantilevers for Small-Amplitude Dynamic Force Microscopy Using an Optical Deflection Sensor (2011)
  • 著者名/発表者名: Ken-ichi Morita
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics 巻: Vol.50 号: 8S3 ページ: 08LB12-08LB12
  • DOI: 10.1143/jjap.50.08lb12
  • NAID: 210000071141
  • 査読あり
• [雑誌論文] ナノスケール計測におけるロバストネス-走査型プローブ顕微鏡の新技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 雑誌名: システム/制御/情報(システム制御情報学会誌) 巻: Vol.55 ページ: 141-146
  • 査読あり
• [雑誌論文] Lateral Manipulation of Single Defect on Insulating Surface Using Noncontact Atomic Force Microscope (2011)
  • 著者名/発表者名: Insook Yi
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics 巻: Vol.50
  • 査読あり
• [雑誌論文] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever with an optical interferometer (2010)
  • 著者名/発表者名: K. Morita, Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Nanotechnology 巻: Vol.21 号: 30 ページ: 305704-305704
  • DOI: 10.1088/0957-4484/21/30/305704
  • NAID: 130005038268
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous AFM and STM measurements on the Si(111)-(7×7) surface (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, Y. Nakajima, D. Sawada, K. Morita, M. Abe and S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: Vol.81(Issue 24) 号: 24
  • DOI: 10.1103/physrevb.81.245322
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, I. Yi, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: Vol.96 号: 26
  • DOI: 10.1063/1.3457997
  • 査読あり
• [雑誌論文] NC-AFM imaging of the TiO2(110)-(1x1) surface at low temperature (2010)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Nanotechnology 巻: Vol.21
  • 査読あり
• [雑誌論文] Observation of Subsurface Atoms of the Si(111)-(7×7) Surface by Atomic Force Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 雑誌名: Appl.Phys.Express 巻: Vol.3
  • 査読あり
• [雑誌論文] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever with an optical interferometer (2010)
  • 著者名/発表者名: Kenichi Morita
  • 雑誌名: Nanotechnology 巻: Vol.21
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: Vol.96
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous AFM and STM measurements on the Si(111)-(7x7)surface (2010)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: Vol.81
  • 査読あり
• [雑誌論文] Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme(110) face in liquid by FM-AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Ken Nagashima
  • 雑誌名: Journal of Vacuum Science & Technology B 巻: Vol.28
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous atomic force and scanning tunneling microscopy study of the Ge(111)-c(2×8) surface (2010)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 雑誌名: Journal of Vacuum Science & Technology B. 巻: Vol.28
  • 査読あり
• [雑誌論文] NC-AFM imaging of the TiO_2(110)-(1×1) surface at low temperature (2010)
  • 著者名/発表者名: Ayhan Yurtsever
  • 雑誌名: Nanotechnology 巻: Vol.21
  • 査読あり
• [雑誌論文] 単原子ペンによるナノパターンニング (2010)
  • 著者名/発表者名: 森田清三
  • 雑誌名: 顕微鏡 巻: Vol.45 ページ: 51-54
  • 査読あり
• [雑誌論文] 原子分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡の開発研究 (2010)
  • 著者名/発表者名: 森田清三
  • 雑誌名: 表面科学 Vol.31 ページ: 19-24
  • 査読あり
• [雑誌論文] New insights on atomic-resolution Frequency-Modulation Kelvin Probe Force Microscopy imaging on semiconductors (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Sadewasser, P. Jelinek, C.-K. Fang, O. Custance, Y. Yamada, Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review Letters 巻: Vol.103 号: 26
  • DOI: 10.1103/physrevlett.103.266103
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous measurement of force and tunneling current at room temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: Vol.94
  • URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3127503
  • 査読あり
• [雑誌論文] Mapping and imaging for rapid atom discrimination : A study of frequency modulation atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: vol.94
  • URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3046736
  • 査読あり
• [雑誌論文] New insights on aomic-resolution Frequency-Modulation Kelvin Probe Force Microscopy imaging on semiconductors (2009)
  • 著者名/発表者名: S.Sadewasser
  • 雑誌名: Physical Review Letters 103
  • 査読あり
• [雑誌論文] Mapping and imaging for rapid atom discrimination : A study of frequency modulation atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugimoto
  • 雑誌名: Applied Physice Letters 94
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous measurement of force and tunneling current at room temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 雑誌名: Applied Physice Letters Vol.94
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers (2009)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 雑誌名: Materials Transactions Vol.50 ページ: 940-942
  • 査読あり
• [雑誌論文] 交換型垂直原子操作を用いたアトムペン方式の原子埋め込み文字の研究 (2009)
  • 著者名/発表者名: 森田清三
  • 雑誌名: 表面科学 Vol.30 ページ: 454-459
  • 査読あり
• [雑誌論文] 表面機能元素の直接観察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 雑誌名: まてりあ 第48巻 ページ: 294-298
  • NAID: 10024817438
  • 査読あり
• [雑誌論文] 力学的原子操作による原子埋め込み文字の室温組立 (2009)
  • 著者名/発表者名: 森田清三
  • 雑誌名: 機能材料 Vol.29 ページ: 28-33
  • 査読あり
• [雑誌論文] (2009)
  • 著者名/発表者名: M.Abe
  • 雑誌名: Noncontact Atomic Force Microscopy(担当は第2章)(Springer) ページ: 15-30
• [学会発表] Simultaneous scanning force/ tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Morita and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Measurement of atom hopping probability and interaction force for atom manipulation on the Si(111)-(7x7) surface (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Alkali-metal adsorption and manipulation on a hydroxylated TiO2(110) surface using atomic force microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Simultaneous scanning force/tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Morita
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Measurement of atom hopping probability and interaction force for atom manipulation on the Si(111)-(7x7) surface (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugimoto
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Three dimensional force mapping and KPFM measurements on the CaF_2/Si(111) surface (2011)
  • 著者名/発表者名: M.Fukumoto
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-19
• [学会発表] Alkali-metal adsorption and manipulation on a hydroxylated TiO2 (110) surface using atomic force microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: A.Yurtsever
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-19
• [学会発表] Simultaneous scanning force/ tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Morita and M. Abe et al.
  • 学会等名: 3rd Global COE International Symposium Electronic Devices Innovation(EDIS2011)
  • 発表場所: Osaka, Japan
  • 年月日: 2011-12-16
• [学会発表] Simultaneous scanning force/tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Morita
  • 学会等名: 3rd Global COE International Symposium Electronic Devices Innovation (EDIS2011)
  • 発表場所: Osaka, Japan
  • 年月日: 2011-12-16
• [学会発表] Simultaneous scanning force/ tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Morita and M. Abe et al.
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science(ISSS-6)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2011-12-14
• [学会発表] Fabrication of Quartz Cantilevers for Small-Amplitude Dynamic Force Microscopy Using an Optical Deflection Sensor (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Miyata and M. Abe et al.
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science(ISSS-6)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2011-12-14
• [学会発表] Role of the tip reactivity for atom manipulation by atomic force microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugimoto
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science (ISSS-6)
  • 発表場所: Tokyo, Japan(招待講演)
  • 年月日: 2011-12-14
• [学会発表] Simultaneous scanning force/tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Morita
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science (ISSS-6)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2011-12-14
• [学会発表] Fabrication of Quartz Cantilevers for Small-Amplitude Dynamic Force Microscopy Using an Optical Deflection Sensor (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Miyata
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science (ISSS-6)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2011-12-14
• [学会発表] Three dimensional force mapping and KPFM measurements on the CaF2/ Si(111) surface (2011)
  • 著者名/発表者名: M. Fukumoto and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-11-20
• [学会発表] 室温原子操作によるAgナノクラスターの作製 (2011)
  • 著者名/発表者名: 平山直樹
  • 学会等名: 社団法人日本金属学会秋期大会
  • 発表場所: カルチャーリゾートフェストーネ,宜野湾市,沖縄県
  • 年月日: 2011-11-07
• [学会発表] Si(111)-7×7表面上におけるAFM/STMを用いた3D force mappingによる同時測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 上田啓市
  • 学会等名: 社団法人日本金属学会秋期大会
  • 発表場所: カルチャーリゾートフェストーネ,宜野湾市,沖縄県
  • 年月日: 2011-11-07
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いたH/Si(111)-7×7表面の測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 福本将輝
  • 学会等名: 社団法人日本金属学会秋期大会
  • 発表場所: カルチャーリゾートフェストーネ,宜野湾市,沖縄県
  • 年月日: 2011-11-07
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による半導体中の不純物の直接観察 (2011)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 学会等名: 第29回(2010年春期)応用物理学会 26p-KL-3
  • 発表場所: 神奈川県(厚木市)(招待講演)
  • 年月日: 2011-03-26
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による半導体中の不純物の直接観察 (2011)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 学会等名: 第29回(2010年春期)応用物理学会 26P-KL-3
  • 発表場所: 神奈川県(厚木市)(招待講演)
  • 年月日: 2011-03-26
• [学会発表] Simultaneous AFM and STM measurements at room temperature (2010)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S5-3, p.11
  • 発表場所: Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Oral)
  • 年月日: 2010-12-10
• [学会発表] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7)surface by dynamic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Keiichi Ueda
  • 学会等名: The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S4-2, P.39
  • 発表場所: Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Poster)
  • 年月日: 2010-12-10
• [学会発表] Force spectroscopy on hydrogen adsorbed Si(111)-(7x7)surface using dynamic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Masaki Fukuinoto
  • 学会等名: The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S4-3, p.40
  • 発表場所: Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Poster)
  • 年月日: 2010-12-10
• [学会発表] High spring constant cantilever for small amplitude dynamic force microscopy using an optical interferometer (2010)
  • 著者名/発表者名: Kenichi Morita
  • 学会等名: The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S5-2, p.10
  • 発表場所: Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Oral)
  • 年月日: 2010-12-10
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた水平原子操作に関わる相互作用力測定 (2010)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 第30回表面科学学術講演会 6Ap-11, p.366
  • 発表場所: 大阪府(吹田市)(口頭発表)
  • 年月日: 2010-11-06
• [学会発表] AFM/STM同時測定における化学結合とトンネル電流の相関 (2010)
  • 著者名/発表者名: 澤田大輔
  • 学会等名: 真空・表面科学合同講演会(第30回表面科学学術講演会・第51回真空に関する連合講演会) 5 P-064Y, p.303
  • 発表場所: 大阪府(吹田市)(Poster)
  • 年月日: 2010-11-05
• [学会発表] 周波数変調方式AFMによる液中での可溶性結晶の格子像観察 (2010)
  • 著者名/発表者名: 長嶋剣
  • 学会等名: 第30回表面科学学術講演会 4Da-02, p.59
  • 発表場所: 大阪府(吹田市)(口頭発表)
  • 年月日: 2010-11-04
• [学会発表] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡測定 (2010)
  • 著者名/発表者名: 森田健一
  • 学会等名: 第30回表面科学学術講演会 4Da-01S, p.58
  • 発表場所: 大阪府(吹田市)(口頭発表)
  • 年月日: 2010-11-04
• [学会発表] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡 (2010)
  • 著者名/発表者名: 森田健一
  • 学会等名: 第71回応用物理学会学術講演会 P9-19
  • 発表場所: 長崎県長崎市(長崎大学)(ポスター)
  • 年月日: 2010-09-16
• [学会発表] Atomic resolution observation of soluble crystals in liquid by Frequency-Modulation AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: KenNagashima
  • 学会等名: 167 Committee satellite workshop on SPM p.6-7
  • 発表場所: Ishikawa, Japan (Kanazawa)
  • 年月日: 2010-08-04
• [学会発表] AFM/STM Simultaneous Imaging of the Si4 Tetramer (2010)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM2010) P2-1-10, p.112
  • 発表場所: Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Impact of asymmetry tip structure on NC-AFM force mapping (2010)
  • 著者名/発表者名: Hong Jing Chung
  • 学会等名: 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010) P2-2-16, p.136
  • 発表場所: Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Atom manipulation and force measurement by atomic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Hideki Tanaka
  • 学会等名: 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010) P2-1-14, P.116
  • 発表場所: Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster)
  • 年月日: 2010-08-02
• [学会発表] Measurement of atom hopping probability and interaction force during atom manipulation on the Si(111)-(7x7)surface (2010)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010) Su-1440, p.9
  • 発表場所: Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral)
  • 年月日: 2010-08-01
• [学会発表] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever combined with an optical interferometer (2010)
  • 著者名/発表者名: Kenichi Morita
  • 学会等名: 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM2010) Su-1200, p.7
  • 発表場所: Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral)
  • 年月日: 2010-08-01
• [学会発表] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever and an optical interferometer (2010)
  • 著者名/発表者名: Kenichi Morita
  • 学会等名: 2nd Global COE Student Conference on Innovative Electronic Topics SCIENT2010 Po-01, p.50
  • 発表場所: Osaka, Japan (Suita)(Poster)
  • 年月日: 2010-07-28
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた原子レベルでの物性計測と原子操作 (2010)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 学会等名: 計測自動制御学会関西支部平成22年度講習会
  • 発表場所: 学校法人常翔学園大阪センター(招待講演)
  • 年月日: 2010-07-13
• [学会発表] NC-AFM/STM Measurements on the Semiconductor Surface (2010)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials P-C37, p.205
  • 発表場所: Mie, Japan (Shima)(Poster)
  • 年月日: 2010-07-01
• [学会発表] Toward Atom-by-Atom Nanostructuring of Composite Nanomaterials Based on Atomic Force Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: 6th Nanoscienceand Nanotechnology Conference (Nano-TRVI) p.145
  • 発表場所: Cesme, Turkey (Izmir)(Plenary Talk)
  • 年月日: 2010-06-17
• [学会発表] Room-temperature AFM experience with large amplitude (2010)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Abe
  • 学会等名: 12th International Ceramics Congress
  • 発表場所: Montecatini Terme, Italy(Invited)
  • 年月日: 2010-06-08
• [学会発表] High spring constant cantilever with metal tip for small amplitude NC-AFM operation (2010)
  • 著者名/発表者名: Kenichi Morita
  • 学会等名: International Conference on Core Research and Engineering Science of Advanced Materials PSI-45
  • 発表場所: Osaka, Japan (Suita)(Poster)
  • 年月日: 2010-06-01
• [学会発表] 半導体表面におけるAFM/STM同時測定 (2010)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 社団法人日本顕微鏡学会第66回学術講演会 26aC04-S
  • 発表場所: 愛知県名古屋市(名古屋国際会議場)(招待講演)
  • 年月日: 2010-05-26
• [学会発表] 周波数変調方式AFMによる液中での無機・有機結晶の格子像観察 (2010)
  • 著者名/発表者名: 長嶋剣
  • 学会等名: 日本地球惑星科学連合2010年大会 MIS012-09
  • 発表場所: 千葉県千葉市(幕張メッセ国際会議場)(口頭発表)
  • 年月日: 2010-05-23
• [学会発表] Site-specific force spectroscopy on TiO_2 (110) surface at low-temperature (2010)
  • 著者名/発表者名: Abdi Pratama
  • 学会等名: 2nd Global COE International Symposium--Electronic Devices Innovation--, Workshop on Applications of Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Osaka, Japan (Hotel Hankyu Expo-park, Suita)
  • 年月日: 2010-01-14
• [学会発表] Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface (2010)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 2nd Global COE International Symposium--Electronic Devices Innovation--, Workshop on Applications of Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Osaka, Japan (Hotel Hankyu Expo-park, Suita)
  • 年月日: 2010-01-14
• [学会発表] Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme(110) face in liquid by frequency-modulation AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Ken Nagashima
  • 学会等名: Watching Biomolecules in Action Symposium & 2nd Kanazawa Bio-AFM Workshop
  • 発表場所: Osaka, Japan (Suita)
  • 年月日: 2009-12-15
• [学会発表] YBCOバイクリスタル結晶粒界接合の欠陥と電気特性評価 (2009)
  • 著者名/発表者名: 牧哲朗
  • 学会等名: 第8回低温工学・超伝導若手合同講演会
  • 発表場所: 大阪市立大学文化交流センター
  • 年月日: 2009-12-11
• [学会発表] NC/AFM/STM measurements on the Si(111)-(7×7) surface and the Ge(111)-c(2×8) surface (2009)
  • 著者名/発表者名: Ryousuke Takimoto
  • 学会等名: 17th International Colloquium on Scanning Probe Mivroscopy (ICSPM17)
  • 発表場所: Shizuoka, Japan (Atagawa)
  • 年月日: 2009-12-10
• [学会発表] Studying different type of image contrast on TiO2 (110) surface by using nc-AFM measurement (2009)
  • 著者名/発表者名: Hideki Tanaka
  • 学会等名: 17th International Colloquium on Scanning Probe Mivroscopy (ICSPM17)
  • 発表場所: Shizuoka, Japan (Atagawa)
  • 年月日: 2009-12-10
• [学会発表] Atomic Resolution Imaging of alkali halide crystal in liquid by Frequency-Modulation AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Sho Yamane
  • 学会等名: 17th International Colloquium on Scanning Probe Mivroscopy (ICSPM17)
  • 発表場所: Shizuoka, Japan (Atagawa)
  • 年月日: 2009-12-10
• [学会発表] Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme(110) face in liquid by frequency-modulation AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Ken Nagashima
  • 学会等名: 17th International Colloquium on Scanning Probe Mivroscopy (ICSPM17)
  • 発表場所: Shizuoka, Japan (Atagawa)
  • 年月日: 2009-12-10
• [学会発表] Understanding the Mechanism of Different Contrast Modes on TiO_2(110)-(1×1) Surface using nc-AFM at Low Temperature-a Force Spectroscopic Measurement (2009)
  • 著者名/発表者名: Abdi Pratama
  • 学会等名: 2009 MRS FALL MEETING
  • 発表場所: Boston, USA (The Hynes Convention Center)
  • 年月日: 2009-12-02
• [学会発表] AFM/STM Simultaneous Measurement on TiO_2 (110) Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: Hideki Tanaka
  • 学会等名: 2009 MRS FALL MEETING
  • 発表場所: Boston, USA (The Hynes Convention Center)
  • 年月日: 2009-12-01
• [学会発表] Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: Ken-ichi Morita
  • 学会等名: 2009 MRS FALL MEETING
  • 発表場所: Boston, USA (The Hynes Convention Center)
  • 年月日: 2009-12-01
• [学会発表] Simultaneous Measurement of Force and Tunneling Current with Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Abe
  • 学会等名: 2009 MRS FALL MEETING
  • 発表場所: Boston, USA (The Hynes Convention Center)
  • 年月日: 2009-11-30
• [学会発表] Atomic Resolution Imaging of KBr(100) cleaved surface in saturated solution by Frequency-Modulation AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Sho Yamane
  • 学会等名: The 4th International Symposium on Atomic Technologies (ISAT-4)
  • 発表場所: Hyogo, Japan (Kobe)
  • 年月日: 2009-11-19
• [学会発表] NC-AFM/STM measurements on the Si(111)-(7×7) surface and the Ge(111)-c(2×8) surface (2009)
  • 著者名/発表者名: Ryousuke Takimoto
  • 学会等名: The 4th International Symposium on Atomic Technologies (ISAT-4)
  • 発表場所: Hyogo, Japan (Kobe)
  • 年月日: 2009-11-19
• [学会発表] Atom-by-Atom Nanostructuring of Composite Nanomaterials Based on AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: The 4th International Symposium on Atomic Technologies (ISAT-4)
  • 発表場所: Hyogo, Japan (Kobe)
  • 年月日: 2009-11-18
• [学会発表] 超高真空非接触原子間力顕微鏡による原子レベル物性評価 (2009)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 学会等名: 日本表面科学会
  • 発表場所: タワーホール船堀
  • 年月日: 2009-10-29
• [学会発表] 超高真空非接触原子間力顕微鏡による原子レベル物性評価 (2009)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 学会等名: (社)日本表面科学会 第29回表面科学学術講演会「急速に進歩する非接触原子間力顕微鏡」
  • 発表場所: タワーホール船堀(東京都江戸川区)
  • 年月日: 2009-10-29
• [学会発表] FM-AFMによる正方晶リゾチーム(110)面の液中分子分解能観察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 長嶋剣
  • 学会等名: 第70回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 富山県(富山市)
  • 年月日: 2009-09-08
• [学会発表] Probing the interaction of potassium (K) atoms on TiO_2(110) surface by using non-contact atomic force microscopy (nc-AFM) at low temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: Abdi Pratama
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka University, Osaka, Japan (Suita)
  • 年月日: 2009-09-02
• [学会発表] Constant height AFM/STM imaging on TiO_2(110) surface (2009)
  • 著者名/発表者名: Hideki Tanaka
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka University, Osaka, Japan (Suita)
  • 年月日: 2009-09-02
• [学会発表] NC-AFM/STM Measurements on the Si(111)-(7×7) Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka University, Osaka, Japan (Suita)
  • 年月日: 2009-09-02
• [学会発表] Atomic Resolution Observation of KBr(100) cleaved surface in liquid by FM-AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Sho Yamane
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka University, Osaka, Japan (Suita)
  • 年月日: 2009-09-02
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡法による機能性材料の原子レベル物性評価 (2009)
  • 著者名/発表者名: 阿部真之
  • 学会等名: 日本セラミックス協会
  • 発表場所: 愛媛大学
  • 年月日: 2009-09-01
• [学会発表] Atom Manipulation by Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Yoshiaki Sugimoto
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka University, Osaka, Japan (Suita)
  • 年月日: 2009-09-01
• [学会発表] 周波数変調方式AFMによる液中での分子分解能測定 (2009)
  • 著者名/発表者名: 長嶋剣
  • 学会等名: 第34回結晶成長討論会
  • 発表場所: 宮城県(仙台市)
  • 年月日: 2009-09-01
• [学会発表] FM-AFMを用いた溶液中でのKBr(100)劈開面の原子分解能観察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 山根翔
  • 学会等名: 第4回三大学(東京理科大・筑波大・大阪大)連携学生研究会「アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会」
  • 発表場所: 北海道山越群(長万部町)
  • 年月日: 2009-08-27
• [学会発表] Site-specific force spectroscopy on TiO_2(110) surface at low-temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: Ayhan Yurtsever
  • 学会等名: 12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: CT, USA (NEW Haven)
  • 年月日: 2009-08-12
• [学会発表] Molecular Resolution Investigation of Lysozyme Crystal in Liquid by Frequency-Modulation AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: Ken Nagashima
  • 学会等名: 12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: CT, USA (NEW Haven)
  • 年月日: 2009-08-12
• [学会発表] Simultaneous measurement of force and tunneling current (2009)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: CT, USA (NEW Haven)
  • 年月日: 2009-08-11
• [学会発表] Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: Daisuke Sawada
  • 学会等名: 12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: CT, USA (NEW Haven)
  • 年月日: 2009-08-11
• [学会発表] Toward Atom-by-Atom Assembly of Complex Nanostructures Based on Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: Local meeting of Czech Nanosociety (Institute of Physics, Academy of Sciences of the Czech Republic)
  • 発表場所: Czech Republic (Prague)
  • 年月日: 2009-07-16
• [学会発表] Toward Atom-by-Atom Assembly of Complex Nanostructures Based on Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Seizo Morita
  • 学会等名: Physikalisches Kolloquium-Weekly colloquia SS09, Physik, Universitat Regensburg, Germany
  • 発表場所: Germany (Regansburg)
  • 年月日: 2009-07-13
• [学会発表] 周波数変調方式AFMによる液中での分子分解能測定 (2009)
  • 著者名/発表者名: 長嶋剣
  • 学会等名: 日本地球惑星科学連合2009年大会
  • 発表場所: 千葉県(幕張メッセ、千葉市)
  • 年月日: 2009-05-16
• [備考]
  • URL: http://www.afm.eei.eng.osaka-u.ac.jp/