| 研究課題/領域番号 |
21300015
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
梶原 誠司 九州工業大学, 情報工学研究院, 教授 (80252592)
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| 研究分担者 |
温 暁青 九州工業大学, 情報工学研究院, 教授 (20250897)
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| 連携研究者 |
宮瀬 紘平 九州工業大学, 情報工学研究院, 助教 (30452824)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
9,360千円 (直接経費: 7,200千円、間接経費: 2,160千円)
2012年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2011年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2010年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2009年度: 4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
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| キーワード | ディペンダブル・コンピューティング / VLSI の設計とテスト / システムオンチップ / 論理回路 / 高信頼設計 / 計算機システム / VLSIの設計とテスト / (1)ディペンダブル・コンピューティング |
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| 研究概要 |
本研究の目的は、論理回路に対して、システムの空き時間を利用した高品質なフィールドテスト手法を確立することにある。特に、劣化が原因となる故障にも高い故障検出能力を有するテスト手法を開発する。フィールドテストは、一回のテスト時間が短く、テストパターンを保存する記憶容量も少ないが、テスト機会はフィールドで複数回可能である。本研究では、テストパターン集合を分割して、複数回のテスト機会を通じて一つのテストを実施する「分割・巡回テスト手法」を開発する。
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