| 研究課題/領域番号 |
21340087
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
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研究代表者 |
大島 永康 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (00391889)
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| 研究分担者 |
林崎 規託 東京工業大学, 原子炉工学研究所, 准教授 (50334537)
黒田 隆之助 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (70350428)
鈴木 良一 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 副研究部門長 (80357300)
ブライアン オローク (BRIAN O'Rourke / BRIAN O'rourke) 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 研究員 (60586551)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
18,720千円 (直接経費: 14,400千円、間接経費: 4,320千円)
2011年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2010年度: 6,110千円 (直接経費: 4,700千円、間接経費: 1,410千円)
2009年度: 10,920千円 (直接経費: 8,400千円、間接経費: 2,520千円)
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| キーワード | 大気陽電子顕微鏡 / 大気陽電子プローブマイクロアナライザー / 陽電子消滅 / 陽電子プローブマイクアナライザ / 低速陽電子ビーム / 陽電子寿命測定 |
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| 研究概要 |
大気中の実環境下において、材料中の原子空孔をその場分析する装置である大気陽電子顕微鏡の開発を行った。実際に試作機を完成させ仕様を明らかにしたことで、大気陽電子顕微鏡実用化の目途を得るに至った。試作機を用いて、パルス化して集束した陽電子ビームを大気中に低速で引き出して、従来には不可能であった大気中実用環境下にある機能性薄膜材料等中の分子間空隙を、陽電子寿命測定法により非破壊的に定量評価することに成功した。
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