研究概要 |
SiC表面分解法により,カーボンナノチューブ(CNT)/n-type 6H-SiCヘテロ接合を作製し,界面の電子構造・電気的特性の解明を行った。電流-電圧特性と高分解能光電子分光測定の結果,本手法で作製したCNT膜が金属的であり,CNT/SiC界面にショットキー型の接合が形成されていることが明らかとなった。また,光電子スペクトルを詳細に解析することにより,界面での障壁高さが1.38eVであることがわかった。一方,本手法におけるCNT生成過程についてX線吸収分光(XAFS)法を用いて,その場測定による解明を行い,生成メカニズムについて議論を行った。
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