| 研究課題/領域番号 |
21540316
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
内田 和人 東京大学, 物性研究所, 技術専門職員 (20422438)
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| 研究分担者 |
長田 俊人 東京大学, 物性研究所, 准教授 (00192526)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2011年度: 520千円 (直接経費: 400千円、間接経費: 120千円)
2010年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2009年度: 3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
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| キーワード | イメージング / センシング / 磁気光学 / スピン / 磁性体 / 半導体 |
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| 研究概要 |
光学測定系とピエゾ駆動ステージを結合させ、差分法による光信号の試料位置依存性のみを検出する高分解能イメージング手法を開発した。この手法は数値演算による画像の鮮鋭化処理とは決定的に異なっており、イメージファイバ光学系や顕微鏡システムに適用したところ、炭素原子1層の膜であるグラフェンの反射イメージ等の観測で、大幅な分解能の向上を実現した。スピン情報のイメージングについては、装置開発は完了したものの、本格的な物性研究への応用は今後の課題となった。
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