| 研究課題/領域番号 |
21550012
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物理化学
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| 研究機関 | 京都工芸繊維大学 |
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研究代表者 |
板谷 明 京都工芸繊維大学, 工芸科学研究科, 教授 (80035071)
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| 研究分担者 |
増尾 貞弘 関西学院大学, 理工学部, 准教授 (80379073)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2011年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2010年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2009年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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| キーワード | 1分子計測(SMD) / 共焦点顕微鏡 / ナノ材料 / 蛍光挙動 / 電荷移動錯体 |
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| 研究概要 |
単一分子分光法により、高分子薄膜中の孤立単一電荷移動(Charge-transfer=CT)錯体の蛍光強度・寿命の経時変化を同時測定した。電子供与性分子の化学構造と高分子の種類を変え、それらのCT蛍光挙動に与える影響について検討した。その経時変化には3種のパターンが観測されたが、電子供与性分子や高分子によりそのパターンの出現する割合が変化した。その結果について議論した。また、励起状態でのみ錯体を形成するエキシプレックス系、更にCTナノ結晶についても単一分子蛍光分光法を適用し、幾つかの知見を得た。
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