| 研究課題/領域番号 |
21550018
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物理化学
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| 研究機関 | 九州大学 |
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研究代表者 |
原田 賢介 九州大学, 理学研究院, 講師 (70165017)
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| 研究分担者 |
田中 桂一 九州大学, 宙空環境研究センター, 学術研究者 (50037280)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
5,200千円 (直接経費: 4,000千円、間接経費: 1,200千円)
2011年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2010年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2009年度: 3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
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| キーワード | イオンビーム / イオン錯体 / 陰イオン / 溶媒和電子 / 光脱離 / 半導体レーザー / フーリエ変換分光 / クラスター / 分子構造 / 陰イオン錯体 / 近赤外分光 / 電子脱離分光 |
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| 研究概要 |
四重極質量分析計、超音速分子線、エレクトロスプレーイオン源(ESI)を組み合わせたイオンビーム分光装置を製作した。ESIイオン源とイオン観測・検出部分は直交させる必要があると判明し、現在イオンビームラインの改造中である。また近赤外・可視半導体レーザー分光装置を製作した。400 nm-1550 nmで出力3-100 mWの様々な波長のシングルモード及びマルチモードの近赤外・可視レーザーを用いてスペクトルを観測し、性能テストを行った。電流による波数掃引範囲が短い(0. 5cm-1程度)事が分かったため、フーリエ変換分光器により波長測定が容易にできる半導体レーザー・フーリエ変換分光装置を開発した。
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