| 研究課題/領域番号 |
21550095
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
分析化学
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| 研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
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研究代表者 |
成川 知弘 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測標準研究部門, 研究員 (10265473)
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| 研究分担者 |
黒岩 貴芳 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測標準研究部門, 研究室付 (60356946)
千葉 光一 独立行政法人産業技術総合研究所, 計量標準管理センター, センター長 (20281066)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2011年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2010年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2009年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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| キーワード | 環境分析 / 無機分析 / ICP-MS / スペクトル分析 / 微量分析 / 同位体希釈質量分析 / スペシエーション / LC-ICPOES/MS / 分析化学 / 機器分析 / 化学形態分析 / 分析感度存性 / 分析感度依存性 |
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| 研究概要 |
As化合物、例えばAs(III)、As(V)および有機ヒ素合成物やSe化合物[Se(IV)とSe(VI)]のような化学形態が異なる化学種を誘導結合プラズマ分析法で分析した場合、As(V)がAs(III)よりも感度が高く観測されることを発見した。これは同様な2つの酸化物をもつSe(IV)とSe(VI)では認められない現象であった。そこで、As(V)とAs(III)の感度差の機構について検討を行った結果、プラズマ内で生成されるAsの水素付加体の生成率の違いによって起こることを世界で始めて明らかにした。我々はこの現象をIncoherent MolecularFormation(IMF)効果と定義した。そして、IMF効果を抑制する方法について検討を行い、影響を抑制する技術を開発した。
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