| 研究課題/領域番号 |
21560074
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
機械材料・材料力学
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| 研究機関 | 北見工業大学 |
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研究代表者 |
柴野 純一 北見工業大学, 工学部, 教授 (60206141)
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| 連携研究者 |
菖蒲 敬久 日本原子力研究開発機構, 研究副主幹 (90425562)
梶原 堅太郎 高輝度光科学研究センター, 副主幹研究員 (40443551)
桐山 幸治 総合科学研究機構, 研究員 (00425563)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2011年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2010年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2009年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
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| キーワード | 白色X線 / シンクロトロン放射光 / き裂 / ひずみ / X線CT / 非破壊評価 / 高エネルギーX線 |
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| 研究概要 |
シンクロトロン放射光から得られる高エネルギーの白色X線を利用して、破壊の原因となる材料内部のき裂をCTで非破壊検出し、その近傍のひずみマッピングを同じ装置環境で行うことを可能とする測定システムを検討した。その結果、白色X線を用いたCTによる内部き裂検出と内部き裂近傍のひずみマッピングのための個々の測定技術が開発できた。統合した測定システムの構築には至らなかったが、その可能性を示すことができた。
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