研究課題
基盤研究(C)
(ZrO_2)_(1-x)(Y_2O_3)_x:(YSZ)層上に非晶質Si(a-Si)薄膜を堆積して、YSZ層の結晶化誘発効果によりSi薄膜の低温固相結晶化を検討した。その結果、結晶化にはY組成比Y/(Zr+Y)が0. 15以上必要であること、YSZ層によりa-Si薄膜が短時間で結晶化すること、直接堆積法に比較して固相結晶化によりZrの拡散と結晶化Si膜表面凹凸が低減できること、良好な結晶化にはa-Si堆積直前のYSZ層表面の改質が重要であること、TFT作製には各層の熱膨張係数の違いを考慮する必要があることが分かった。
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