| 研究課題/領域番号 |
21560734
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
構造・機能材料
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| 研究機関 | 独立行政法人物質・材料研究機構 |
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研究代表者 |
田中 義久 独立行政法人物質・材料研究機構, ハイブリッド材料ユニット, 主幹研究員 (60343844)
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| 研究分担者 |
岸本 哲 独立行政法人物質・材料研究機構, ハイブリッド材料ユニット, 主席研究員 (10354169)
劉 玉付 東京大学, 先端科学技術研究センター, 特任准教授 (80354223)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2011年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2010年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2009年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
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| キーワード | 階層構造材料 / マルチスケール / その場高分解能観察 / バイオ材料 / その場観察 / マルチスケール変形 |
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| 研究概要 |
ナノ～ミリレベルのマルチスケールひずみ計測手法に関して、電子線リソーグラフィ描画技術を基盤にした計測用パターンを開発した。マルチスケールで観察可能な高分解能電界放射型電子顕微鏡とマイクロ負荷デバイスとを組み合わせたシステムを構築し、電子線モアレ法と画像相関法の両者を取り入れた変形評価手法を提案した。複雑な階層構造を持つバイオ材料や複合材料に適用し、数十ナノ厚さの有機層界面やスケールの異なる界面層の局所不均一変形を実験的に捉えることに成功した。
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