低レイヤ低コスト高セキュアな通信プロトコルの開発

• 研究課題/領域番号: 21656096
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 通信・ネットワーク工学
• 研究機関: 東北大学
• 研究代表者: 曽根 秀昭 東北大学, サイバーサイエンスセンター, 教授 (40134019)
• 研究分担者: 水木 敬明 東北大学, サイバーサイエンスセンター, 准教授 (90323089) ; 林 優一 東北大学, 工学研究科, COEフェロー (60551918)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• 研究課題ステータス: 完了 (2011年度)
• 配分額: 2,940千円 (直接経費: 2,700千円、間接経費: 240千円); 2011年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円); 2010年度: 700千円 (直接経費: 700千円); 2009年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
• キーワード: 暗号・セキュリティ / セキュア・ネットワーク / 暗号・認証等 / 情報システム

研究概要

本研究は, 近距離での秘密鍵の共有と, 遠距離での秘密鍵の活用という二つの手法を確立し, それぞれを組み合わせることによって, 低レイヤ低コスト高セキュアな通信の実現を目指すものである。すなわち, 本研究の主要な成果は, 廉価なケーブルなどを用いてセキュリティを確保する上で重要なメカニズムを明らかにしたことと, 共有済みの秘密鍵を用いた秘密増幅のプロトコルの開発に成功したことである。

研究成果

• [雑誌論文] An Application of st-Numbering to Secret Key Agreement (2011)
  • 著者名/発表者名: Takaaki Mizuki, Satoru Nakayama, and Hideaki Sone
  • 雑誌名: International Journal of Foundations of Computer Science 巻: 22 ページ: 1211-1227
  • 査読あり
• [雑誌論文] A Contact Conditions in Connectors that Cause Common Mode Radiation, IEICE Trans (2011)
  • 著者名/発表者名: Yu-ichi Hayashi, Yoshiki Kayano, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone, and Hiroshi Inoue
  • 雑誌名: Electronics 巻: E94-C ページ: 1369-1374
  • 査読あり
• [雑誌論文] Suppression of Information Leakage from Electronic Devices Based on SNR (2011)
  • 著者名/発表者名: Taishi Ikematsu, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, and Hideaki Sone
  • 雑誌名: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2011 ページ: 920-924
  • 査読あり
• [雑誌論文] An Application of st-Numbering to Secret Key Agreement (2011)
  • 著者名/発表者名: Takaaki Mizuki, Satoru Nakayama, Hideaki Sone
  • 雑誌名: International Journal of Foundations of Computer Science 巻: vol.22 号: 05 ページ: 1211-1227
  • DOI: 10.1142/s0129054111008659
  • 査読あり
• [雑誌論文] Contact Conditions in Connectors that Cause Common Mode Radiation (2011)
  • 著者名/発表者名: Yu-ichi Hayashi, Yoshiki Kayano, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone, Hiroshi Inoue
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Electronics 巻: E94-C 号: 9 ページ: 1369-1374
  • DOI: 10.1587/transele.E94.C.1369
  • NAID: 10030189376
  • ISSN: 0916-8524, 1745-1353
  • 査読あり
• [雑誌論文] Suppression of Information Leakage from Electronic Devices Based on SNR (2011)
  • 著者名/発表者名: Taishi Ikematsu, Yu-ichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Hideaki Sone
  • 雑誌名: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2011 ページ: 920-924
  • DOI: 10.1109/isemc.2011.6038440
  • 査読あり
• [雑誌論文] Modeling Connector Contact Condition Using a Contact Failure Model with Equivalent Inductance (2010)
  • 著者名/発表者名: Yu-ichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, and Hideaki Sone
  • 雑誌名: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2010 ページ: 43-747
  • 査読あり
• [雑誌論文] アース線の非接地が情報漏えいに与える影響の測定 (2010)
  • 著者名/発表者名: 衣川昌宏, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 雑誌名: 電子情報通信学会論文誌B 巻: J93-B ページ: 1559-1561
  • NAID: 110007880159
  • 査読あり
• [雑誌論文] Modeling Connector Contact Condition Using a Contact Failure Model with Equivalent Inductance (2010)
  • 著者名/発表者名: Yuichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
  • 雑誌名: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2010 ページ: 743-747
  • 査読あり
• [雑誌論文] Modeling Connector Contact Condition Using a Contact Failure Model with Equivalent Inductance (2010)
  • 著者名/発表者名: Yu-ichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
  • 雑誌名: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2010 (未定, accepted)
  • 査読あり
• [学会発表] コネクタ接触境界における電流路の変化とインダクタンス増加の関係 (2012)
  • 著者名/発表者名: 松田和樹, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 岡山大学
  • 年月日: 2012-03-22
• [学会発表] コネクタ接触境界における電流路の変化とインダクタンス増加の関係 (2012)
  • 著者名/発表者名: 松田和樹, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 2012年電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 岡山大学(岡山市)
  • 年月日: 2012-03-22
• [学会発表] 電源線非接地が漏洩情報の取得性に与える影響に関する検討 (2010)
  • 著者名/発表者名: 衣川昌宏, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 電子情報通信学会ソサイエティ大会
  • 発表場所: 大阪府立大学
  • 年月日: 2010-09-17
• [学会発表] コネクタ接触不良部における電流分布に関する考察 (2010)
  • 著者名/発表者名: 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 東北大学
  • 年月日: 2010-03-17
• [学会発表] コネクタ接触不良部における電流分布に関する考察 (2010)
  • 著者名/発表者名: 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 2010年電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 仙台
  • 年月日: 2010-03-17
• [学会発表] 漏洩電磁界による情報システムセキュリティ低下の問題 (2010)
  • 著者名/発表者名: 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 東北大学
  • 年月日: 2010-03-16
• [学会発表] 漏洩電磁界による情報システムセキュリティ低下の問題 (2010)
  • 著者名/発表者名: 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 2010年電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 仙台
  • 年月日: 2010-03-16
• [学会発表] Effect of Contact Point Distribution to the High-Frequency Impedance on a Coaxial Connector (2009)
  • 著者名/発表者名: Yu-ichi Hayashi, Songping Wu, Jun Fan, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
  • 学会等名: 電子情報通信学会機構デバイス研究会国際セッション
  • 発表場所: 日本工業大学神田キャンパス
  • 年月日: 2009-11-20
• [学会発表] Effect of Contact Point Distribution to the High-Frequency Impedance on a Coaxial Connector (2009)
  • 著者名/発表者名: 林優一, Songping Wu, Jun Fan, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 電子情報通信学会機構デバイス研究会国際セッション
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2009-11-20
• [学会発表] 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響 (2009)
  • 著者名/発表者名: 大村孔平, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
  • 学会等名: 電子情報通信学会環境電磁工学研究会
  • 発表場所: 岩手県八幡平市
  • 年月日: 2009-10-22