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高機能薄膜デバイス開発のための形状記憶アクティブ歪制御基板の創製

研究課題

研究課題/領域番号 21656189
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分補助金
研究分野 材料加工・処理
研究機関九州大学

研究代表者

西田 稔  九州大学, 大学院・総合理工学研究院, 教授 (90183540)

研究分担者 板倉 賢  九州大学, 大学院・総合理工学研究院, 准教授 (20203078)
光原 昌寿  九州大学, 大学院・総合理工学研究院, 助教 (10514218)
石田 章  独立行政法人物質材料研究機構, センサー材料センター, グループリーダー (00354168)
研究期間 (年度) 2009 – 2010
研究課題ステータス 完了 (2010年度)
配分額 *注記
3,200千円 (直接経費: 3,200千円)
2010年度: 900千円 (直接経費: 900千円)
2009年度: 2,300千円 (直接経費: 2,300千円)
キーワードアクティブ歪制御 / 形状記憶効果 / 可逆形状記憶効果 / 走査電子顕微鏡 / 薄膜デバイス / 密着性 / 角度選択型反射電子像 / 歪コントラスト / 透過電子顕微鏡 / 結晶化 / 結晶成長
研究概要

種々の薄膜材料に望みの方向と大きさの『変形応力(歪)』を動的に加えることができる形状記憶合金を利用した『アクティブ歪制御基板』の創製を行い,薄膜デバイスと一体化させデバイスの特性に及ぼす『歪』の効果を検証し,高機能薄膜デバイスの開発に関する基礎的知見を得ることを目的とした.本年度は前年度に実験場の問題点として提起した「形状記憶合金薄板上へのSi結晶膜の形成と密着性の評価」について引き続き検討を行ったが,密着性の良いSi結晶膜を形成させることが出来なかった.しかしながら部分的に形成したSi薄膜を低加速FE-SEMによって観察した結果,角度選択型反射電子(AsB)像および後方散乱電子回折(EBSD)を併用することでSi中の歪分布が定量的に解析できることが明らかとなった.さらにAsB像は形状記憶合金の内部構造,特にマルテンサイトの双晶欠陥,バリアント配列の広領域観察・解析に有効な手段と成り得るという新たな知見が得られた.結果として当初予定していたSi/SiO_2/形状記憶合金/SiO_2/Si多層膜を基本とするアクティブ歪制御基板構造の試作と特性評価の実施には至らなかったが,今後も1)スパッタリングによる形状記憶合金の成膜,結晶化および記憶熱処理,2)合金薄膜のパターニング(リフトオフ法),3)Si基板部加工(異方性エッチング)4)Au電極形成,5)Si薄膜形成等について継続して検討を行う.

報告書

(2件)
  • 2010 実績報告書
  • 2009 実績報告書
  • 研究成果

    (4件)

すべて 2010 2009

すべて 学会発表 (4件)

  • [学会発表] 走査電子顕微鏡による急速溶融成長GOI薄膜の結晶性評2010

    • 著者名/発表者名
      本村俊一
    • 学会等名
      第54回日本顕微鏡学会九州支部総会・学術講演会
    • 発表場所
      九州大学
    • 年月日
      2010-12-04
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Ti-Ni合金B19'マルテンサイトにおける自己調整構造の結晶学2010

    • 著者名/発表者名
      河野英人
    • 学会等名
      第54回日本顕微鏡学会九州支部総会・学術講演会
    • 発表場所
      九州大学
    • 年月日
      2010-12-04
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] AIC-SiGe 薄膜の微細構造に及ぼすAl層表面酸化の影響2009

    • 著者名/発表者名
      犬塚純平
    • 学会等名
      第51回日本顕微鏡学会九州支部総会・学術講演会
    • 発表場所
      九州工業大学
    • 年月日
      2009-12-05
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] AuCu合金蒸着Si基板上に成膜したβ-FeSi_2薄膜の微細構造評価2009

    • 著者名/発表者名
      貴島宏
    • 学会等名
      第51回日本顕微鏡学会九州支部総会・学術講演会
    • 発表場所
      九州工業大学
    • 年月日
      2009-12-05
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書

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公開日: 2009-04-01   更新日: 2016-04-21  

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