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絶縁物からの二次電子放出機構の解明と二次電子収率データベース構築

研究課題

研究課題/領域番号 21686005
研究種目

若手研究(A)

配分区分補助金
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関大阪大学

研究代表者

永富 隆清  大阪大学, 工学研究科, 助教 (90314369)

研究期間 (年度) 2009 – 2010
研究課題ステータス 完了 (2010年度)
配分額 *注記
10,140千円 (直接経費: 7,800千円、間接経費: 2,340千円)
2010年度: 4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2009年度: 5,980千円 (直接経費: 4,600千円、間接経費: 1,380千円)
キーワード二次電子 / 絶縁物 / エキソ電子
研究概要

エキソ電子検出システムの開発を進めると共に,パルスイオン照射システムを開発・改良し,絶縁物の二次電子収率測定系を開発してその測定精度を向上させた.さらに絶縁物の実材料におけるガス吸着等による二次電子収率の変化を測定するシステムを構築し,収率変化を定量的に捉えることに成功した.また,二次電子データベース構築等については,日本学術振興会産学研究協力委員会である第141委員会内に設置した専門委員会において,材料・デバイスを製造している企業等と連携した研究活動を行った.

報告書

(3件)
  • 2010 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2009 実績報告書
  • 研究成果

    (74件)

すべて 2011 2010 2009 その他

すべて 雑誌論文 (33件) (うち査読あり 33件) 学会発表 (40件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels2011

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics Vol.50

    • NAID

      40018283331

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Altemating-Current Plasma Display Panels2011

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: Vol.50

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels2011

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, Y.Morita, T.Nagatomi, M.Terauchi, T.Tsujita, T.Nakayama, Y.Yamauchi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Yamauchi, Y.Takai
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis

      巻: (掲載確定)

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Surface Excitations in Surface Electron Spectroscopies Studied by Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy and Elastic Peak Electron Spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma
    • 雑誌名

      Analytical Science Vol.26

      ページ: 165-176

    • NAID

      10026781658

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Surface Energy Loss Processes in XPS Studied by Absolute Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto
    • 雑誌名

      Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena Vol.178-179

      ページ: 178-185

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy III: Satellites by Extended Excitations2010

    • 著者名/発表者名
      J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani, K.Endo
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis Vol.16

      ページ: 196-213

    • NAID

      130007499072

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] In Situ Observation of Change in Surface Atomic Arrangement of Sc-O/W (100) System during Phase Transition at High Temperature2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, Y.Nakanishi, Y.Takai
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science and Technology A Vol.28

      ページ: 199-206

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects of Wall Charge on Firing Voltage and Statistical Delay Time in Alternating Current Plasma Display Panels2010

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics Vol.49

    • NAID

      40017085038

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Paths for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
    • 雑誌名

      Surface and Interface Analysis Vol.42

      ページ: 1537-1540

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Members of JSPS141-WG-SEY, "Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method"2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu
    • 雑誌名

      Surface amd Interface Analysis Vol.42

      ページ: 1541-1543

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Surface Energy Loss Processes in XPS Studied by Absolute Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto
    • 雑誌名

      Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

      巻: Vol.178-179 ページ: 178-185

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects of Wall Charge on Firing Voltage and Statistical Delay Time in Alternating Current Plasma Display Panels2010

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: Vol.49

    • NAID

      40017085038

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Accumulation and Decay Characteristics of Exoelectron Sources at MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels2010

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: Vol.49

    • NAID

      40017253815

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Paths for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
    • 雑誌名

      Surface and Interface Analysis

      巻: Vol.42 ページ: 1537-1540

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu, Members of JSPS141-WG-SEY
    • 雑誌名

      Surface and Interface Analysis

      巻: Vol.42 ページ: 1541-1543

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Surface Energy Loss Processes in XPS Studied by Absolute Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto
    • 雑誌名

      Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomen (印刷中)

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects of Wall Charge on Firing Voltage and Statistical Delay Time in Alternating Current Plasma Display Panels2010

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics (印刷中)

    • NAID

      40017085038

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Surface Excitations in Surface Electron Spectroscopies Studied by Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy and Elastic Peak Electron Spectroscopy2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma
    • 雑誌名

      Analytical Science 26

      ページ: 165-176

    • NAID

      10026781658

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Change in Work Function during Phase Transition of Sc-O/W (100) System at High Temperatures2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Nakanishi, T.Nagatomi, Y.Takai
    • 雑誌名

      Applied Surface Science Vol.256

      ページ: 1082-1087

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Inelastic Mean Free Path, Surface Excitation Parameter, and Differential Surface Excitation Parameter in Au for 300 to 3000 eV Electrons2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto
    • 雑誌名

      Applied Surface Science Vol.256

      ページ: 1200-1204

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] In Situ Measurement of Surface Potential Developed on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics Vol.106

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Influences of Measurement Conditions on Etching Rate of GaAs/AlAs Superlattice in Auger Electron Spectroscopy Sputter Depth Profiling2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis Vol.15

      ページ: 329-332

    • NAID

      130007686485

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy I : Histry and Overview2009

    • 著者名/発表者名
      J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani K.Endo
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis Vol.16

      ページ: 42-63

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy II : Satellites by Local Excitation2009

    • 著者名/発表者名
      J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani, K.Endo
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis Vol.16

      ページ: 127-152

    • NAID

      130007499812

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Incident Angle and Energy Dependences of Low-Energy Ar^+ Ion Sputtering of GaAs/AlAs Multilayered System2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
    • 雑誌名

      Surface and Interface Analysis Vol.41

      ページ: 581-589

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Change in Work Function during Phase Transition of Sc-O/W(100) System at High Temperatures2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Nakanishi, T.Nagatomi, Y.T.akai
    • 雑誌名

      Applied Surface Science 256

      ページ: 1082-1087

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Inelastic Mean Free Path, Surface Excitation Parameter, and Differential Surface Excitation Parameter in Au for 300 to 3000 eV Electrons2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto
    • 雑誌名

      Applied Surface Science 256

      ページ: 1200-1204

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] In Situ Measurement of Surface Potential Developed on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics 106

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Influences of Measurement Conditions on Etching Rate of GaAs/AlAs Superlattice in Auger Electron Spectroscopy Sputter Depth Profiling2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis 15

      ページ: 329-332

    • NAID

      130007686485

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Incident Angle and Energy Dependences of Low-Energy Ar+ Ion Sputtering of GaAs/AIAs Multilayered System2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Bungo, Y.Takai
    • 雑誌名

      Surface and Interface Analysis 41

      ページ: 581-589

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy I: Histry and Overview2009

    • 著者名/発表者名
      J.D.Lee, T.Nagatomi, G. Mizutani, K.Endo
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis 16

      ページ: 42-63

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Photoemission Electron Spectroscopy II: Satellites by Local Excitations2009

    • 著者名/発表者名
      J.D.Lee, T.Nagatomi, G.Mizutani, K.Endo
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis 16

      ページ: 127-152

    • NAID

      130007499812

    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, Y.Morita, T.Nagatomi, M.Terauchi, T.Tsujita, T.Nakayama, Y.Yamauchi
    • 雑誌名

      Journal of Surface Analysis (in press)

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] MgO膜へのH_2O吸着によるイオン誘起二次電子収率の変化2011

    • 著者名/発表者名
      村澤裕子, 小出博仁, 永富隆清, 高井義造, 吉野恭平, 森田幸弘, 西谷幹彦, 北川雅俊
    • 学会等名
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学
    • 年月日
      2011-03-24
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オニジェ深さ方向分析2010

    • 著者名/発表者名
      荻原俊弥, 永富隆清, 田沼繁夫
    • 学会等名
      真空・表面科学合同講演会 第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
    • 発表場所
      大阪大学(招待講演)
    • 年月日
      2010-11-06
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 加熱処理によるMgO膜のイオン誘起二次電子収率及び表面状態の変化2010

    • 著者名/発表者名
      村澤裕子, 片岡憲秀, 吉野恭平, 永富隆清, 高井義造, 森田幸弘, 西谷幹彦, 北川雅俊
    • 学会等名
      真空・表面科学合同講演会 第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
    • 発表場所
      大阪大学
    • 年月日
      2010-11-05
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析2010

    • 著者名/発表者名
      谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原俊弥, 田沼繁夫, K.J.Kim
    • 学会等名
      真空・表面科学合同講演会 第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
    • 発表場所
      大阪大学
    • 年月日
      2010-11-05
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Determination of IMFP, SEP and DSEP by absolute REELS analysis2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      Hungarian-Japanese Joint Working Seminar on Studies of Fundamental Parameter Database and Atomic Processes for High Precision Quantitative Analysis using X-Ray Photoelectron Spectroscopy (in the frame of the bilateral MTA-JSPS scientific research cooperation project)
    • 発表場所
      Debrecen, Hungary.
    • 年月日
      2010-10-27
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Determination of IMFP, SEP and DSEP by absolute REELS analysis2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      Hungarian-Japanese Joint Working Seminar on Studies of Fundamental Parameter Database and Atomic Processes for High Precision Quantitative Analysis using X-Ray Photoelectron Spectroscopy (in the frame of the bilateral MTA-JSPS scientific research cooperation project)
    • 発表場所
      MTA ATOMKI, Debrecen (Hungary)(招待講演)
    • 年月日
      2010-10-27
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Metastable De-excitation Spectroscopyを用いたプラズマディスプレイパネル用保護膜の分析(II)-CO_2暴露がMgO及びCaO膜のMDSスペクトルへ与える影響-2010

    • 著者名/発表者名
      吉野恭平, 森田幸弘, 西谷幹彦, 寺内正治, 辻田卓司, 中山貴仁, 山内康弘, 永富隆清, 高井義造, 山内泰
    • 学会等名
      第71回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      長崎大学 文京キャンパス
    • 年月日
      2010-09-16
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] オージェ電子分光法装置におけるエネルギー軸校正法(ISO17973,17974)-元素分析と状態分析のために-2010

    • 著者名/発表者名
      永富隆清
    • 学会等名
      実用表面分析セミナー'10-ISO規格を基礎とした表面分析の実際-
    • 発表場所
      大阪大学中ノ島センター
    • 年月日
      2010-07-23
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析2010

    • 著者名/発表者名
      荻原俊弥, 永富隆清, 田沼繁夫
    • 学会等名
      第35回表面分析研究会
    • 発表場所
      軽井沢プリンスホテル
    • 年月日
      2010-06-21
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Effects of Heating in Air on Metastable De-Excitation Spectroscopy Spectra of MgO and CaO Films2010

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Yamauchi
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Gyeongju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85^°-High-Angle Inclined Holder2010

    • 著者名/発表者名
      T.Ogiwara, T.Nagatomi, K.J.Kim, S.Tanuma
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Gyeongju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2010

    • 著者名/発表者名
      T.Miyagawa, M.Inoue, T.Iyasu, Y.Hashimoto, K.Goto, R.Shimizu, T.Nagatomi
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Gyeongju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Band Alignment and Defect States in Amorphous Si-N Compounds on Si Substrates2010

    • 著者名/発表者名
      S.Heo, J.G.Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Gyeongju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Surface Defect States of MgO Films2010

    • 著者名/発表者名
      S.Heo, J.G.Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S. Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Gyeongju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Change in Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film Caused by Heating in Air2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Murasawa, J.Azargal, K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Gyeongju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] igh-Sensitive Depth Profiling Analyses of Delta-Doped Layers Specimens with Glancing Angle Irradiation and Detection Method2010

    • 著者名/発表者名
      H.Tanishiki, T.Ogiwara, T.Nagatomi, Y.Takai, K.J.Kim, S.Tanuma
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Gyeongju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling Analysis Using Inclined Holder2010

    • 著者名/発表者名
      T.Ogiwara, T.Nagatomi, S.Tanuma
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis 2010
    • 発表場所
      Portland, USA.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] How do we determine interface width and interface position of depth profile?-Definition in ISO documents and application to practical analysis-2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      The 1st Meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program on "Materials Research with Emphasis on Activities Relating to VAMAS"
    • 発表場所
      Deajeon, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Mechanism of Secondary electron Emission2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      Korea-Japan PDP Forum 2010
    • 発表場所
      Jeju, Korea.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Effects of Heating in Air on Metastable De-Excitation Spectroscopy Spectra of MgO and CaO Films2010

    • 著者名/発表者名
      K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Yamauchi
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85°-High-Angle Inclined Holder2010

    • 著者名/発表者名
      T.Ogiwara, T.Nagatomi, K.J.Kim, S.Tanuma
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2010

    • 著者名/発表者名
      T.Miyagawa, M.Inoue, T.Iyasu, Y.Hashimoto, K.Goto, R.Shimizu, T.Nagatomi
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Band Alignment and Defect States in Amorphous Si-N Compounds on Si Substrates2010

    • 著者名/発表者名
      S.Heo, J.G.Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Surface Defect States of MgO Films2010

    • 著者名/発表者名
      S.Heo, J.G Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Change in Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film Caused by Heating in Air2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Murasawa, J.Azargal, K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] High-Sensitive Depth Profiling Analyses of Delta-Doped Layers Specimens with Glancing Angle Irradiation and Detection Method2010

    • 著者名/発表者名
      H.Tanishiki, T.Ogiwara, T.Nagatomi, Y.Takai, K.J.Kim, S.Tanuma
    • 学会等名
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • 発表場所
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] High Depth Resolution Auger Depth Profiling Analysis Using Inclined Holder2010

    • 著者名/発表者名
      T.Ogiwara, T.Nagatomi, S.Tanuma
    • 学会等名
      Microscopy & Microanalysis 2010
    • 発表場所
      Portland, OR (USA)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 電子と固体(バルク,薄膜)の相互作用-モンテカルロシミュレーションによる2010

    • 著者名/発表者名
      永富隆清
    • 学会等名
      日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会平成22年度研修セミナー「走査電子顕微鏡法とその周辺技術」-SEM,EPMA,EBSDの基礎から応用まで-
    • 発表場所
      三島, 東レ総合研修センター(招待講演)
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Mechanism of Secondary electron Emission2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      Korea-Japan PDP Forum 2010
    • 発表場所
      Jeju, Korea
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] How do we determine interface width and interface position of depth profile? -Definition in ISO documents and application to practical analysis-2010

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      The 1st Meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program on "Materials Research with Emphasis on Activities Relating to VAMAS"
    • 発表場所
      Deajeon, Korea
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Influence of Wall Charges on Electron Emission from MgO Layer in AC-PDP2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      Japan-Korea PDP Forum'09
    • 発表場所
      Kyoto, Japan.
    • 年月日
      2009-07-11
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Influence of Wall Charges on Electron Emission from MgO Layer in AC-PDP2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi
    • 学会等名
      Japan-Korea PDP Forum '09
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2009-07-11
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Electron Inelastic Mean Free Path and Surface Excitation Parameter in 10 Elemental Solids Determined by Absolute REELS analysis over 300-3000 eV Range2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
    • 学会等名
      13th European Conference on Application of Surface and Interface Analysis (ECASIA'09)
    • 発表場所
      Antalya, Turkey.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] In Situ Measurement of Surface Potential Induced on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 学会等名
      5th International Workshop on High-Resolution Depth Profiling (HRDP-5)
    • 発表場所
      Kyoto, Japan.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Members of JSPS141-WG-SEY, "Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method"2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu
    • 学会等名
      7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
    • 発表場所
      Hawaii, USA.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Pathes for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
    • 学会等名
      7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
    • 発表場所
      Hawaii, USA.
    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書
  • [学会発表] Electron Inelastic Mean Free Path and Surface Excitation Parameter in 10 Elemental Solids Determined by Absolute REELS analysis over 300-3000 eV Range2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
    • 学会等名
      13th European Conference on Application of Surface and Interface Analysis (ECASIA'09)
    • 発表場所
      Antalya, Turkey
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] In Situ Measurement of Surface Potential Induced on MgO Thin Film Surface under Ion Irradiation using Ion Scattering Spectroscopy2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, T.Kuwayama, K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • 学会等名
      5th International Workshop on High-Resolution Depth Profiling (HRDP-5)
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu, Members of JSPS141-WG-SEY
    • 学会等名
      7th International Symposium on Atomic Level Characteri zations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
    • 発表場所
      Hawaii, USA
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [学会発表] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Pathes for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2009

    • 著者名/発表者名
      T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
    • 学会等名
      7th International Symposium on Atomic Level Characteri zations for New Materials and Devices '09 (ALC'09)
    • 発表場所
      Hawaii, USA
    • 関連する報告書
      2009 実績報告書
  • [備考] ホームページ等

    • URL

      http://www-atom.mls.eng.osaka-u.ac.jp/

    • 関連する報告書
      2010 研究成果報告書

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公開日: 2009-04-01   更新日: 2016-04-21  

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