走査型プローブ顕微鏡によるセラミックスのき裂進展素過程のその場観察

• 研究課題/領域番号: 21686062
• 研究種目: 若手研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 無機材料・物性
• 研究機関: 横浜国立大学
• 研究代表者: 多々見 純一 横浜国立大学, 環境情報研究院, 准教授 (30303085)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• 研究課題ステータス: 完了 (2011年度)
• 配分額: 25,870千円 (直接経費: 19,900千円、間接経費: 5,970千円); 2011年度: 5,460千円 (直接経費: 4,200千円、間接経費: 1,260千円); 2010年度: 5,330千円 (直接経費: 4,100千円、間接経費: 1,230千円); 2009年度: 15,080千円 (直接経費: 11,600千円、間接経費: 3,480千円)
• キーワード: セラミックス / 破壊 / 窒化ケイ素 / 走査型プローブ顕微鏡 / その場観察 / 磁歪材料

研究概要

走査型プローブ顕微鏡に付設可能な小型試験機を開発した。安定破壊を目的として、片側シェブロンノッチ試験片を用いた。Si_3N_4セラミックスでは、き裂は連続的に進展するとは限らず、先端あるいはき裂近傍にマイクロクラックを生成しながら、それらが連結して不連続に進展していくことが観察された。また、磁歪材料であるTerfenol-Dでは、き裂の進展に伴いき裂近傍の磁区構造が変化していく様子が確認された。

研究成果

• [学会発表] In-Situ Observation of Crack Propagation Behavior of Silicon Nitride Ceramics by Scanning Probe Microscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Masahiro Onishi, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: ICACC2012
  • 発表場所: デイトナビーチ(米国)
• [学会発表] In-situ observation of crack propagation behavior of Si3N4 ceramics by scanning probe microscope (2011)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Masahiro Onishi, Toru Wakihara, Takeshi Meguro and Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: The 35th International Conference and Expositionon Advanced Ceramics and Composites
  • 発表場所: Daytona Beach, U. S. A
• [学会発表] In-situ Observation of Crack Propagation Behavior of Si_3N_4 Ceramics by Scanning Probe Microscope (2011)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Masahiro Onishi, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: Fractography of Advanced Ceramics
  • 発表場所: ジャクソンビル(米国)
• [学会発表] In-situ observation of crack propagation behavior of Si_3N_4 ceramics by scanning probe microscope (2011)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Masahiro Onishi, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: Pacrim9
  • 発表場所: ケアンズ(オーストラリア)
• [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡によるSi_3N_4セラミックスのき裂進展素過程のその場観察 (2011)
  • 著者名/発表者名: 大西将弘・多々見純一・脇原徹・米屋勝利・目黒竹司
  • 学会等名: 日本セラミックス協会秋季シンポジウム
  • 発表場所: 札幌
• [学会発表] In-Situ Observation of Crack Propagation Behavior of Silicon Nitride Ceramics by Scanning Probe Microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Masahiro Onishi, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: MS&T2011
  • 発表場所: コロンバス(米国)
• [学会発表] In-situ observation of crack propagation behavior of Si_3N_4 ceramics by scanning probe microscope (2011)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Masahiro Onishi, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: MS&T
  • 発表場所: 横浜
• [学会発表] In-situ observation of crack propagation behavior of Si_3N_4 ceramics by scanning probe microscope (2011)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Masahiro Onishi, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: The 35th International Conference and Exposition on Advanced Ceramics and Composites
  • 発表場所: Daytona Beach, U.S.A.
• [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡によるSi_3N_4セラミックスのき裂進展過程のその場観察 (2010)
  • 著者名/発表者名: 大西将弘、多々見純一、脇原徹、米屋勝利、目黒竹司
  • 学会等名: 第5回セラミックフェスタin神奈川
  • 発表場所: 神奈川工科大学、厚木
  • 年月日: 2010-12-11
• [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡によるSi_3N_4セラミックスのき裂進展過程のその場観察 (2010)
  • 著者名/発表者名: 大西将弘・多々見純一・脇原徹・米屋勝利・目黒竹司
  • 学会等名: 日本セラミックス協会2009年年会
  • 発表場所: 東京農工大学(東京都)
  • 年月日: 2010-03-23
• [学会発表] Nanofractography of Ceramics by Scanning Probe Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Junichi Tatami, Toru Wakihara, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: 3rd International Congress on Ceramics
  • 発表場所: 大阪
• [学会発表] In-situ observation of crack propagation of Si_3N_4 ceramics by scanning probe microscope (2010)
  • 著者名/発表者名: Masahiro Onishi, Junichi Tatami, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: The 3rd International Symposium on SiAlONs and Non-Oxides
  • 発表場所: Cappadocia, Turkey
• [学会発表] In-situ observation of crack propagation of Si_3N_4 ceramics by scanning probe microscope (2010)
  • 著者名/発表者名: Masahiro Onishi, Junichi Tatami, Toru Wakihara, Takeshi Meguro, Katsutoshi Komeya
  • 学会等名: 第20回日本MRS学術シンポジウム
  • 発表場所: 横浜
• [学会発表] Nanofractography of Ceramics by Scanning Probe Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: J.Tatami, T.Wakihaza, K.Komeya
  • 学会等名: 3rd Imernational Congress on Ceramics
  • 発表場所: 大阪(招待講演)