| 研究課題/領域番号 |
21700059
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 奈良先端科学技術大学院大学 |
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研究代表者 |
米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2011年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2010年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2009年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | テスト容易化設計 / 高品質遅延テスト / システムオンチップ / 3次元集積化 / 三次元集積化 / テストアーキテクチャ |
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| 研究概要 |
三次元集積化システムオンチップに対して高品質・低コストなテストを実現するためのテスト生成技術・テスト容易化設計技術に関する研究を行った。テスト実行時の温度とテストデータ量の多さに着目し、テスト時の温度ばらつきによる遅延テスト品質の低下を抑えるテスト生成手法、および少ないテストデータ量で高品質な遅延テストを実現可能なテストコスト最適化手法を確立した。
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