| 研究課題/領域番号 |
21710118
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
ナノ材料・ナノバイオサイエンス
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| 研究機関 | (財)高輝度光科学研究センター |
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研究代表者 |
安田 伸広 (財)高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 研究員 (10393315)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2010年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2009年度: 3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
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| キーワード | 単結晶X線構造解析 / 微小結晶 / 放射光 / ナノ試料マニピュレーション / 結晶構造 / Focused Ion Beam(FIB) |
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| 研究概要 |
本研究の目的は、Focused Ion Beam(FIB)を利用して、ナノ粉末試料からナノサイズ結晶1粒子の選択と測定ピンへの取り付けを可能にする「ナノサイズ結晶マニピュレーション技術」を確立し、ナノサイズ結晶1粒の単結晶X線回折測定を容易にすることであった。
本研究では、250nmφのBaTiO_3ナノサイズ結晶をFIBを利用してハンドリングを行い、SPring-8の高輝度放射光X線を使った回折測定にも成功した。また、データ解析により測定したナノサイズ結晶が2つのドメイン構造からなることを示唆する結果を得た。
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