研究課題
若手研究(B)
本研究では、これまでにない高耐久と高輝度性能を兼ね備えた電子源を目指し、半導体フォトカソードの開発を行った。本研究により、小さな電子親和力や大きなバンドギャップを持つ半導体による高耐久化と放出電子のエネルギー幅を量子閉じ込め効果による極小化を実現する半導体フォトカソード条件を見出した。このような半導体として着目したバルク構造GaN半導体により既存技術の一桁以上の高耐久化を実現し、InGaN-GaN超格子半導体により超格子構造が従来技術のバルク構造に比べ、放出電子のエネルギー幅を半分以下に小さくできることを明らかにした。
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