| 研究課題/領域番号 |
21750026
|
|---|
| 研究種目 |
若手研究(B)
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 研究分野 |
物理化学
|
|---|
| 研究機関 | 分子科学研究所 |
|---|
研究代表者 |
長坂 将成 分子科学研究所, 光分子科学研究領域, 助教 (90455212)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2009 – 2010
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
|
| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2010年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2009年度: 3,510千円 (直接経費: 2,700千円、間接経費: 810千円)
|
|---|
| キーワード | X線吸収分光法 / 共鳴オージェ電子分光法 / 共吸着層 / 表面・界面物性 / 物性実験 / 内殻分光 / 電極反応 / 固液界面 |
|---|
| 研究概要 |
金属表面上に分子が共吸着した系は、触媒反応や電極反応のモデル系であり、共吸着層の存在比率を系統的に変化させた表面の電子状態を調べることが求められてきた。本研究では、レーザー脱離法により表面上に共吸着種の比率の異なる状態を連続的に作成し、その表面を位置分解型電子分光器で一度に測定する手法の開発を行った。これにより様々な比率の共吸着層のX線吸収分光法、共鳴オージェ電子分光法の測定が可能となった。
|
