ノイズ計測を用いた有機半導体中のキャリアの寿命の評価

• 研究課題/領域番号: 21760008
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 応用物性・結晶工学
• 研究機関: 東京工業大学
• 研究代表者: 東 康男 東京工業大学, 応用セラミックス研究所, 助教 (80452415)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2010
• 研究課題ステータス: 完了 (2010年度)
• 配分額: 3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円); 2010年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2009年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
• キーワード: 有機分子 / ノイズ計測 / 有機半導体

研究概要

低周波ノイズ計測手法を用いることで、半導体中キャリアの寿命の評価を行った。代表的な半導体であるSiにおいては100μsのオーダーで寿命が見積もられ、その温度依存性からキャリアの散乱のメカニズムがイオン化不純物散乱からフォノン散乱に変化していることが分かった。一方有機半導体の1つであるペンタセンにおいて、キャリアの寿命は100μsのオーダーと見積もられ、その温度依存性を測定することでキャリア伝導機構がホッピング伝導からバンド伝導へと転移していることを示唆する結果を得た。

研究成果

• [学会発表] Contact resistance reduction at S/D electrodes-petancene interface by porphyrin self-assembled monolayers in organic thin-film transistors (2010)
  • 著者名/発表者名: Yasuo Azuma, Taiyo Suzuki, Yasuyuki Yamada, Kentaro Tanaka, Masayuki Kanehara,Toshiharu Teranishi, Yutaka Majima
  • 学会等名: Korea-Japan Forum 2010 on Organic Materials for Electronics and Photonics (KJF2010)
  • 発表場所: Fukuoka
• [学会発表] Contact resistance reduction at S/D electrodes-petancene interface by porphyrin self-assembled monolayers in organic thin-film transistors (2010)
  • 著者名/発表者名: Yasuo Azuma, Taiyo Suzuki, Yasuyuki Yamada, Kentaro Tanaka, Masayuki Kanehara, Toshiharu Teranishi, Yutaka Majima
  • 学会等名: Korea-Japan Forum 2010 on Organic Materials for Electronics and Photonics (KJF2010)
  • 発表場所: Fukuoka, Japan
• [学会発表] ノイズ計測によるペンタセン薄膜中のキャリアの寿命の評価 (2009)
  • 著者名/発表者名: 原田佑介、東康男、山田亮、夛田博一
  • 学会等名: 第56回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 筑波大学
  • 年月日: 2009-04-01