| 研究課題/領域番号 |
21760024
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
吉本 真也 東京大学, 物性研究所, 助教 (90507831)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
2010年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2009年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
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| キーワード | 表面・界面物性 / 有機薄膜 / 有機半導体 / 電気伝導 / 探針 / 4探針 |
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| 研究概要 |
本研究では有機半導体のトランジスタ特性(FET特性)を測定する新たな手法として、独立駆動型４探針装置を用いた測定手法を新たに開発し、実際に有機半導体薄膜のFET特性を測定することに成功した。独立駆動型4探針装置は試料の任意の場所の局所的な特性を非破壊測定可能であり、この手法を用いて多結晶ペンタセン薄膜の単一グレインの移動度を直製測定することが可能となった。
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