電子回折図形からの新規結像法によるサブオングストローム分解能の達成と応用への研究

• 研究課題/領域番号: 21760026
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 名古屋大学
• 研究代表者: 山崎 順 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 助教 (40335071)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2010
• 研究課題ステータス: 完了 (2010年度)
• 配分額: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円); 2010年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円); 2009年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
• キーワード: 電子顕微鏡 / 回折顕微法 / 制限視野回折 / 電子線 / サブオングストローム分解能

研究概要

電子回折顕微法における種々の問題点を解決し、手法の可能性と汎用性を大きく前進させることに成功した。具体的成果として、0.078nmの空間分解能の達成、直径6nm領域の再構成、化合物結晶構造の再構成に成功した。

研究成果

• [雑誌論文] Estimation of wave fields of incident beams in a transmission electron microscope by using a small selected-area aperture (2011)
  • 著者名/発表者名: S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
  • 雑誌名: Journal of Electron Microscopy 60(2) ページ: 101-108
  • 査読あり
• [雑誌論文] Estimation of wave fields of incident beams in a transmission electron microscope by using a small selected-area aperture (2011)
  • 著者名/発表者名: S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
  • 雑誌名: Journal of Electron Microscopy 巻: 60(2) ページ: 101-108
  • 査読あり
• [雑誌論文] 回折顕微法による原子配列構造の可視化 -制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生- (2009)
  • 著者名/発表者名: 山崎順、田中信夫、森下茂幸
  • 雑誌名: まてりあ 48巻12号 ページ: 604-604
  • NAID: 10026268055
  • 査読あり
• [雑誌論文] 回折顕微法による原子配列構造の可視化-制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生- (2009)
  • 著者名/発表者名: 山崎順、田中信夫、森下茂幸
  • 雑誌名: まてりあ特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 48(12) ページ: 604-604
  • NAID: 10026268055
  • 査読あり
• [学会発表] (2011)
  • 著者名/発表者名: 太田圭佑、森下茂幸、山崎順、田中信夫
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会67回学術講演会
  • 発表場所: 福岡国際会議場
  • 年月日: 2011-05-17
• [学会発表] 電子回折顕微法を用いた位相像観察 (2011)
  • 著者名/発表者名: 太田圭佑、森下茂幸、山崎順、田中信夫
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会67回学術講演会
  • 発表場所: 福岡国際会議場(発表確定)
  • 年月日: 2011-05-17
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: 山崎順
  • 学会等名: 原子分解能ホログラフィー研究会ワークショップ
  • 発表場所: 東北大学
  • 年月日: 2010-11-13
• [学会発表] 電子回折顕微法を用いた結晶原子配列の可視化 (2010)
  • 著者名/発表者名: 山崎順
  • 学会等名: 原子分解能ホログラフィー研究会ワークショップ
  • 発表場所: 東北大学金属材料研究所
  • 年月日: 2010-11-13
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: J.Yamasaki, A.Hirata, Y.Hirotsu, N.Tanaka
  • 学会等名: The 17th IFSM International Microscopy Congress
  • 発表場所: Rio de Janeilo, Brazil
  • 年月日: 2010-09-23
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: J.Yamasaki, S.Morishita, N.Tanaka
  • 学会等名: The 17th IFSM International Microscopy Congress
  • 発表場所: Rio de Janeilo, Brazil
  • 年月日: 2010-09-23
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: S.Morishita, J.Yamasaki, T.Kato
  • 学会等名: The 17th IFSM International Microscopy Congress
  • 発表場所: Rio de Janeilo, Brazil
  • 年月日: 2010-09-23
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: S.Morishita, J.Yamasaki, T.Kato, N.Tanaka
  • 学会等名: The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
  • 発表場所: 名古屋国際会議場
  • 年月日: 2010-06-25
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: J.Yamasaki, S.Morishita, N.Tanaka
  • 学会等名: COHERENCE 2010
  • 発表場所: Rostock-Warnemunde, Germany
  • 年月日: 2010-06-09
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
  • 学会等名: COHERENCE 2010
  • 発表場所: Rostock-Warnemunde, Germany
  • 年月日: 2010-06-09
• [学会発表] Reconstruction of Crystalline Structures at 78 pmResolution by Electron Diffractive Imaging (2010)
  • 著者名/発表者名: J.Yamasaki, S.Morishita, N.Tanaka
  • 学会等名: COHERENCE 2010
  • 発表場所: Rostock-Warnemunde, Germany.
  • 年月日: 2010-06-09
• [学会発表] Measurement of Wavefront Curvature and Spatial Coherenceof Electron Beams by Using a Small Aperture (2010)
  • 著者名/発表者名: S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
  • 学会等名: COHERENCE 2010
  • 発表場所: Rostock-Warnemunde, Germany.
  • 年月日: 2010-06-09
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: 森下茂幸,山崎順,田中信夫
  • 学会等名: 日本物理学会第65回年次大会
  • 発表場所: 岡山大学
  • 年月日: 2010-03-21
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: 濱邊麻衣子, 齋藤晃, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
  • 学会等名: 日本物理学会第65回年次大会
  • 発表場所: 岡山大学
  • 年月日: 2010-03-21
• [学会発表] 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響 (2010)
  • 著者名/発表者名: 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
  • 学会等名: 日本物理学会 第65回年次大会
  • 発表場所: 岡山大学
  • 年月日: 2010-03-21
• [学会発表] HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み解析II (2010)
  • 著者名/発表者名: 濱邊麻衣子, 齋藤晃, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
  • 学会等名: 日本物理学会 第65回年次大会
  • 発表場所: 岡山大学
  • 年月日: 2010-03-21
• [学会発表] (2010)
  • 著者名/発表者名: 森下茂幸, 山崎順, 加藤丈晴, 田中信夫
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会66回学術講演会
  • 発表場所: 名古屋国際会議場
• [学会発表] 制限視野ナノ回折を用いた入射波動場測定と電子回折顕微法 (2010)
  • 著者名/発表者名: 森下茂幸
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会66回学術講演会
  • 発表場所: 名古屋国際会議場
• [学会発表] (2009)
  • 著者名/発表者名: Jun Yamasaki, Nobuo Tanaka, Shigeyuki Morishita
  • 学会等名: The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science (FEMMS2009)
  • 発表場所: 長崎ハウステンボス
  • 年月日: 2009-09-28
• [学会発表] High-resolution imaging and structure analysis by using aberration-corrected electron diffraction (2009)
  • 著者名/発表者名: Jun Yamasaki, Nobuo Tanaka, Shigeyuki Morishita
  • 学会等名: The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science(FEMM2009)
  • 発表場所: 長崎ハウステンボス
  • 年月日: 2009-09-28
• [学会発表] (2009)
  • 著者名/発表者名: Jun Yamasaki, et al
  • 学会等名: Microscopy & Microanalysis 2009
  • 発表場所: Richmond, USA
  • 年月日: 2009-07-30
• [学会発表] (2009)
  • 著者名/発表者名: Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki
  • 学会等名: Microscopy & Microanalysis 2009
  • 発表場所: Richmond, USA
  • 年月日: 2009-07-30
• [学会発表] Analysis of Crystalline Nano Structures Embedded in Amorphous Films by Selected Area Nano Diffraction in a Cs-corrected TEM (2009)
  • 著者名/発表者名: Jun Yamasaki, et al.
  • 学会等名: Microscopy & Microanalysis 2009
  • 発表場所: Richmond, USA
  • 年月日: 2009-07-30
• [学会発表] (2009)
  • 著者名/発表者名: 森下茂幸, 山崎順, 加藤丈晴, 田中信夫
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会第65回学術講演会
  • 発表場所: 仙台国際センター
  • 年月日: 2009-05-27
• [備考] ホームページ等
  • URL: http://sirius.cirse.nagoya-u.ac.jp/~tanakalab/research/researches/DiffImg.html
• [備考] *11.研究発表の欄に記した雑誌投稿論文は、その号のEditor's Choiceに選出された。
• [備考] *研究成果に関するwebページはURLは
  • URL: http://sirius.cirse.nagoya-u.ac.jp/~tanakalab/research/researches/DiffImg.html
• [備考]
  • URL: http://sirius.cirse.nagoya-u.ac.jp/~tanakalab/research/researches/DiffImg.html