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超ワイドギャップAlN系半導体を用いたパワートランジスタの開発

研究課題

研究課題/領域番号 21H01389
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
審査区分 小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
研究機関名古屋工業大学

研究代表者

三好 実人  名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (30635199)

研究分担者 佐藤 威友  北海道大学, 量子集積エレクトロニクス研究センター, 准教授 (50343009)
研究期間 (年度) 2021-04-01 – 2024-03-31
研究課題ステータス 完了 (2023年度)
配分額 *注記
13,780千円 (直接経費: 10,600千円、間接経費: 3,180千円)
2023年度: 4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2022年度: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2021年度: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
キーワード窒化物半導体 / パワートランジスタ / 高周波トランジスタ / ワイドバンドギャップ / AlN / ヘテロ接合FET
研究開始時の研究の概要

本研究では、将来社会の省エネ化ニーズに応えるアイテムとして、GaN、SiC以上の超ワイドバンドギャップ半導体であるAlN系ヘテロ構造をベースとしたパワートランジスタを着想、その実現に向けた課題と方策を以下のように設定し、その実現に向けた研究計画を策定した。
1. AlN系ヘテロ構造のエピタキシャル成長技術確立
2. AlN系トランジスタのデバイス化技術構築
3. AlN系トランジスタの試作と到達性能の確認

研究成果の概要

窒化アルミニウム(AlN)は、GaNやSiCなど既存の半導体材料を凌駕する次世代パワーデバイス材料として期待されている。AlNは、化学的安定性が高く機械的強度・硬度に優れることも大きな特徴となっているが、これらの諸物性は機能デバイスへの応用を考えた際の技術的困難さも生じさせている。本研究では、AlN系半導体を用いたヘテロ構造デバイスを目指し、結晶成長ならびにデバイス試作を行った。研究成果として、AlNモル分率70%超までのAlGaNチャネルパワートランジスタ、単結晶AlN基板を用いた高周波トランジスタの試作に成功し、各々について良好なデバイス特性を確認した。

研究成果の学術的意義や社会的意義

窒化アルミニウム(AlN)は、次世代パワーデバイス材料としてGaNやSiCなど既存の半導体材料を凌駕する物性を備えているが、ウルトラワイドバンドギャップ半導体の特徴でもある化学的安定性や機械的強度・硬度に起因してデバイス作製が困難であった。本研究を遂行した事で、AlN系半導体トランジスタの設計、結晶成長、デバイスプロセスについて、多くの知見を得る事が出来た。本研究で得られた知見は、電子デバイス応用に限らず、AlN系半導体を用いた光・電子デバイスの実現に大きく寄与できる。

報告書

(4件)
  • 2023 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2022 実績報告書
  • 2021 実績報告書
  • 研究成果

    (21件)

すべて 2024 2023 2022 2021 その他

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件、 オープンアクセス 1件) 学会発表 (17件) (うち国際学会 6件、 招待講演 1件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] DC and pulse I-V characteristics of strain-engineered AlGaInN/GaN HEMTs fabricated on single-crystal AlN substrate2023

    • 著者名/発表者名
      Miyoshi Makoto、Tanaka Sakura、Kawaide Tomoyuki、Inoue Akiyoshi、Egawa Takashi
    • 雑誌名

      physica status solidi (a)

      巻: 220 号: 16 ページ: 2200733-2200733

    • DOI

      10.1002/pssa.202200733

    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] High drain-current-density and high breakdown-field Al<sub>0.36</sub>Ga<sub>0.64</sub>N-channel heterojunction field-effect transistors with a dual AlN/AlGaInN barrier layer2022

    • 著者名/発表者名
      Inoue Akiyoshi、Tanaka Sakura、Egawa Takashi、Miyoshi Makoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 61 号: SC ページ: SC1039-SC1039

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac4b09

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Improved on-state performance in AlGaN-channel heterojunction field-effect transistors with a quaternary AlGaInN barrier layer and a selectively grown n++-GaN contact layer2021

    • 著者名/発表者名
      Miyoshi Makoto、Inoue Akiyoshi、Yamanaka Mizuki、Harada Hiroki、Egawa Takashi
    • 雑誌名

      Materials Science in Semiconductor Processing

      巻: 133 ページ: 105960-105960

    • DOI

      10.1016/j.mssp.2021.105960

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Fabrication of high AlN-mole-fraction Al0.7Ga0.3N channel HFETs using a single-crystal AlN substrate2024

    • 著者名/発表者名
      Y. Kometani, T. Kawaide, S. Tanaka, T. Egawa, M. Miyoshi
    • 学会等名
      16th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (ISPlasma 2024)
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 単結晶AlN基板上の薄層UID-GaNチャネルを備えた AlGaInN/GaN HEMTの作製と特性評価2023

    • 著者名/発表者名
      川出 智之,米谷 宜展,田中 さくら,江川 孝志,三好 実人
    • 学会等名
      電子情報通信学会CPM/ED/LQE研究会
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
  • [学会発表] Device characteristics of AlGaInN/GaN HEMTs with a thin 150-nm-thick UID-GaN channel fabricated on single-crystal AlN substrate2023

    • 著者名/発表者名
      T. Kawaide, Y. Kometani, S. Tanaka, T. Egawa, M. Miyoshi
    • 学会等名
      14th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-14)
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 単結晶AlN基板上の薄層UID-GaNチャネルを備えた AlGaInN/GaN HEMTの作製と特性評価2023

    • 著者名/発表者名
      川出 智之,米谷 宜展,田中 さくら,江川 孝志,三好 実人
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
  • [学会発表] 単結晶AlN基板上高AlN比Al0.7Ga0.3NチャネルHFETの作製(II)2023

    • 著者名/発表者名
      米谷 宜展,川出 智之,田中 さくら,江川 孝志,三好 実人
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2023 実績報告書
  • [学会発表] 単結晶AlN基板上への高AlN比Al0.7Ga0.3NチャネルHFETの作製2023

    • 著者名/発表者名
      川出 智之、田中 さくら、米谷 宜展、江川 孝志、三好 実人
    • 学会等名
      第70回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
  • [学会発表] 単結晶AlN基板上AlGaInN/GaN HEMTの作製と特性評価 (II)2023

    • 著者名/発表者名
      川出 智之、田中 さくら、井上 暁喜、江川 孝志、三好 実人
    • 学会等名
      第70回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
  • [学会発表] UWBG窒化物AlN系パワートランジスタの進展2023

    • 著者名/発表者名
      三好 実人
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Device characteristics of strain-engineered AlGaInN/GaN HEMTs on single-srystal AlN substrate2023

    • 著者名/発表者名
      T. Kawaide, S. Tanaka, A. Inoue, T. Egawa, M. Miyoshi
    • 学会等名
      15th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (ISPlasma 2023)
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 単結晶AlN基板上AlGaInN/GaN HEMTの作製と特性評価2022

    • 著者名/発表者名
      田中 さくら、川出 智之、井上 暁喜、江川 孝志、三好 実人
    • 学会等名
      電子情報通信学会 CPM/ED/LQE研究会
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
  • [学会発表] AlGaInN/GaN HEMTs on single-crystal AlN substrate2022

    • 著者名/発表者名
      Sakura Tanaka, Tomoyuki Kawaide, Akiyoshi Inoue, Takashi Egawa, Makoto Miyoshi
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductors 2022 (IWN 2022)
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Fabrication and device characteristics of AlGaInN/GaN HEMTs on single-crystal AlN Substrate2022

    • 著者名/発表者名
      S. Tanaka, T. Kawaide, A. Inoue, T. Egawa, M. Miyoshi
    • 学会等名
      14th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM 2022)
    • 関連する報告書
      2022 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 単結晶AlN基板上AlGaInN/GaN HEMTの作製と特性評価2022

    • 著者名/発表者名
      田中 さくら、井上 暁喜、川出 智之、江川 孝志、三好 実人
    • 学会等名
      第69回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] AlN/AlGaInNバリアを備えた高耐圧Al0.36Ga0.64NチャネルHFET2021

    • 著者名/発表者名
      井上 暁喜、田中 さくら、江川 孝志、三好 実人
    • 学会等名
      電子情報通信学会 CPM/ED/LQE研究会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 光電気化学エッチング法を用いたAlGaInN/AlGaN HFETの作製2021

    • 著者名/発表者名
      伊藤 滉朔、小松 祐斗、渡久地 政周、井上 暁喜、田中 さくら、三好 実人、佐藤 威友
    • 学会等名
      電子情報通信学会 CPM/ED/LQE研究会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 選択再成長オーミックコンタクトおよびAlNバリアを用いた四元混晶AlGaInN/Al0.36Ga0.64N HFETの作製と特性評価2021

    • 著者名/発表者名
      井上 暁喜、田中 さくら、江川 孝志、三好 実人
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] High-breakdown-voltage Al0.36Ga0.64N-channel HFETs with a dual AlN/AlGaInN barrier layer and selective-area regrowth ohmic contacts2021

    • 著者名/発表者名
      Akiyoshi Inoue, Sakura Tanaka, Takashi Egawa, Makoto Miyoshi
    • 学会等名
      2021 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2021)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [備考] 名古屋工業大学 三好実人研究室のホームページ

    • URL

      https://miyoshi.web.nitech.ac.jp/index.html

    • 関連する報告書
      2023 実績報告書

URL: 

公開日: 2021-04-28   更新日: 2025-01-30  

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