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低電圧安定動作を実現する集積回路ハードウェア設計技術

研究課題

研究課題/領域番号 22300016
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関京都大学

研究代表者

小野寺 秀俊  京都大学, 情報学研究科, 教授 (80160927)

研究分担者 土谷 亮  京都大学, 大学院・情報学研究科, 助教 (20432411)
連携研究者 小林 和淑  京都工芸繊維大学, 大学院・工芸科学研究科, 教授 (70252476)
研究期間 (年度) 2010 – 2012
研究課題ステータス 完了 (2012年度)
配分額 *注記
18,460千円 (直接経費: 14,200千円、間接経費: 4,260千円)
2012年度: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2011年度: 4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2010年度: 9,100千円 (直接経費: 7,000千円、間接経費: 2,100千円)
キーワード低消費電力化 / 低電圧動作 / 耐ばらつき設計 / ディペンダブル VLSI / LSI設計技術 / 低消費電力設計 / ばらつき考慮設計 / ディペンダブルLSI / システムオンチップ / 製造容易化設計
研究概要

0.7V 程度の低電圧で安定に動作する集積回路の実現法を明らかにする事を目的として、
(1)チップ間ばらつきのオンチップ診断と補償回路、
(2)チップ内ばらつきへの耐性を高めた順序論理ゲート設計技術開発、
(3)低電圧領域で発生する動的特性変動の正確な評価技術の開発に取り組んだ。
その結果、ばらつきの自己診断と基板バイアス調整による特性補正回路技術、ばらつき耐性を高めたフリップフロップの実現法、動的なランダムテレグラフノイズが回路動作にあたえる影響を評価する技術を開発した。

報告書

(4件)
  • 2012 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2011 実績報告書
  • 2010 実績報告書
  • 研究成果

    (64件)

すべて 2013 2012 2011 2010 その他

すべて 雑誌論文 (7件) (うち査読あり 7件) 学会発表 (57件) (うち招待講演 2件)

  • [雑誌論文] Impact of Body-Biasing Technique on Random Telegraph Noise Induced Delay Fluctuation2013

    • 著者名/発表者名
      Takashi Matsumoto, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics (JJAP)

      巻: vol 52, no 4 号: 4S ページ: 1-3

    • DOI

      10.7567/jjap.52.04ce05

    • NAID

      210000142035

    • 関連する報告書
      2012 実績報告書 2012 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 再構成可能ディペンダブルVLSIプラットホーム2013

    • 著者名/発表者名
      密山幸男
    • 雑誌名

      電子情報通信学会誌

      巻: 96 ページ: 95-99

    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Variation-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Global Process Parameter Variation2012

    • 著者名/発表者名
      Islam A.K.M. Mahfuzul, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Semiconductor Manufacturing

      巻: vol 25, no 4 号: 4 ページ: 571-580

    • DOI

      10.1109/tsm.2012.2198677

    • 関連する報告書
      2012 実績報告書 2012 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Area-Efficient Reconfigurable-Array-Based Oscillator for Standard Cell Characterization2012

    • 著者名/発表者名
      Bishnu Prasad Das
    • 雑誌名

      IET Circuits, Devices & Systems

      巻: 6 号: 6 ページ: 429-436

    • DOI

      10.1049/iet-cds.2012.0012

    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Multicore Large-Scale Integration Lifetime Extension by Negative Bias Temperature Instability Recovery-Based Self-Healing2012

    • 著者名/発表者名
      T. Matsumoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 51 号: 4S ページ: 04DE02-04DE02

    • DOI

      10.1143/jjap.51.04de02

    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Multicore Large-Scale Integration Lifetime Extention by Negative Bias Temperature Instability Recovery-Based Self-Healing2012

    • 著者名/発表者名
      Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: vol.51(印刷中)

    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A 65 nm Complementary Metal-Oxide-Semiconductor 400 ns Measurement Delay Negative-Bias-Temperature-Instability Recovery Sensor with Minimum Assist Circuit2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: vol.50

    • NAID

      210000070301

    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] A Body Bias Generator Compatible with Cell-based Design Flow for Within-die Variability Compensation2012

    • 著者名/発表者名
      Norihiro Kamae, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference
    • 発表場所
      神戸
    • 年月日
      2012-11-14
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] A Built-in Self-adjustment Scheme with Adaptive Body Bias using P/N-sensitive Digital Monitor Circuits2012

    • 著者名/発表者名
      Islam A.K.M Mahfuzul, Norihiro Kamae, Tohru Ishihara, and Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference
    • 発表場所
      神戸
    • 年月日
      2012-11-13
    • 関連する報告書
      2012 研究成果報告書
  • [学会発表] Inhomogenious Ring Oscillator for WID Variability and RTN Characterization2012

    • 著者名/発表者名
      Shuichi Fujimoto, Takashi Matsumoto Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      International Conference on Microelectronic Test structures
    • 発表場所
      San Diego(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2012-03-20
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Ring Oscillator with Calibration Circuit for Accurate On-Chip IR-drop Measurement2012

    • 著者名/発表者名
      Shinichi Nishizawa, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      International Conference on Microelectronic Test Structures
    • 発表場所
      San Diego(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2012-03-20
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Japan Science and Technology Agency (JST) program on Dependable VLSI Platform project2012

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      Design, Automation & Test in Europe
    • 発表場所
      Dresden(ドイツ)(Invited)
    • 年月日
      2012-03-16
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法2011

    • 著者名/発表者名
      松本高士, 牧野紘明, 小林和淑, 小野寺秀俊
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術報告(集積回路設計)
    • 発表場所
      宮崎
    • 年月日
      2011-11-29
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Reconfigurable Array-Based Area-Efficient Test Structure for Standard Cell Characterization2011

    • 著者名/発表者名
      Bishnu Prasad Das, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2011 International Workshop on RTL and Higl Level Testing
    • 発表場所
      Jaipur(インド)
    • 年月日
      2011-11-26
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Dependable VLSI Program in Japan--Program Overview and the Current status of Dependable VLSI Platform Project--2011

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2011 Asian Test Symposium
    • 発表場所
      New Delhi(インド)(Invited)
    • 年月日
      2011-11-22
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] An Area Effective Forward/Reverse Body Bias Generator for Within-Die Variability Compensation2011

    • 著者名/発表者名
      Norihiro Kamae, Akira Tsuchiya, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2011 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference
    • 発表場所
      Jeju(大韓民国)
    • 年月日
      2011-11-16
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Impact of RTN and NBTI on Synchorous Circuit Reliability2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Matsumoto, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization
    • 発表場所
      San Jose(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2011-11-10
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Multi-core LSI Lifetime Extension by NBTI-Recovery-bases Self-healing2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      International Conference on Solid state Devices and Materials
    • 発表場所
      名古屋
    • 年月日
      2011-09-29
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] ディジタル回路遅延の経年劣化とそのモデル化について2011

    • 著者名/発表者名
      松本高士, 小林和淑, 小野寺秀俊
    • 学会等名
      電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ大会
    • 発表場所
      札幌
    • 年月日
      2011-09-13
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] パッケージとの接続抵抗を考慮したチップ内電源ネットワークの構成手法2011

    • 著者名/発表者名
      西澤真一, 小林和淑, 小野寺秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • 発表場所
      下呂市
    • 年月日
      2011-08-31
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] ランダム・テレグラフ・ノイズに起因したディジタル回路遅延ゆらぎについて2011

    • 著者名/発表者名
      松本高士, 伊東恭佑, 小林和淑, 小野寺秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • 発表場所
      下呂市
    • 年月日
      2011-08-31
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] トランジスタレベルでの経年劣化補償技術におけるNBTI回復特性の利用について2011

    • 著者名/発表者名
      松本高士、牧野裕明、小林和淑、小野寺秀俊
    • 学会等名
      LSIとシステムのワークショップ2011
    • 発表場所
      小倉
    • 年月日
      2011-05-18
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] ロバストファブリックを用いたディペンダブルVLSIプラットフォーム2011

    • 著者名/発表者名
      小野寺秀俊
    • 学会等名
      LSIとシステムのワークショップ2011
    • 発表場所
      小倉(招待講演)
    • 年月日
      2011-05-17
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] トランジスタレベルでの経年劣化補償技術におけるNBTI回復特性の利用について2011

    • 著者名/発表者名
      松本高士, 牧野紘明, 小林和淑, 小野寺秀俊
    • 学会等名
      システムLSIワークショップ
    • 発表場所
      北九州市
    • 年月日
      2011-05-17
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] The Impact of RTN on Performance Flucuation in CMOS Logic Circuits2011

    • 著者名/発表者名
      Kyosuke Ito, Takahi Matsumoto, Shinichi Nishizawa, Hiroki Sunagawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2011 IEEE International Reliability Physics Symposium
    • 発表場所
      Monterey(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2011-04-13
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Variation-sensitive Monitor Circuits for Estimation of Die-to-Die Process Variation2011

    • 著者名/発表者名
      Islam A.K.M Mahfuzul, Akira Tsuchiya, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2011 IEEE International Conference on Microelectronic Test structure
    • 発表場所
      Amsterdam(オランダ)
    • 年月日
      2011-04-06
    • 関連する報告書
      2011 実績報告書
  • [学会発表] Modeling of Random Telegraph Noise under Circuit Operation-Simulation and Measurement of RTN-induced delay fluctuation-2011

    • 著者名/発表者名
      Kyosuke Ito, Takashi Matsumoto, Shinichi Nishizawa, Hiroki Sunagawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2011 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2011-03-15
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Moore Mooreに立ちはだかるCMOSばらつきの理解に向けて2011

    • 著者名/発表者名
      小野寺秀俊
    • 学会等名
      電子情報通信学会VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      那覇(招待講演)
    • 年月日
      2011-03-02
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Modeling of Random Telegraph Noise under Circuit Operation-Simulation and Measurement of RTN-induced Delay Fluctuation2010

    • 著者名/発表者名
      Kyosuke Ito, Takashi Matsumoto, Shinichi Nishizawa, Hiroki Sunagawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose, CA(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2010-11-11
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Warning Prediction Sequential for Transient Error Prevention2010

    • 著者名/発表者名
      Bishnu Prasad Das, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      2010 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
    • 発表場所
      京都
    • 年月日
      2010-10-08
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Variation-Tolerant Design of D FlipFlops2010

    • 著者名/発表者名
      Hiroki Sunagawa, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      IEEE International SOC Conference 2010
    • 発表場所
      Las Vegas(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2010-09-28
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] A 65nm CMOS 400ns Measurement Delay NBTI-Recovery Sensor by Minimum Assist Circuit2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Matsumoto, Hiroaki Makino, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2010)
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2010-09-23
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 基板電圧の制御回路とその面積オーバヘッド2010

    • 著者名/発表者名
      釜江典裕、土谷亮、小野寺秀俊
    • 学会等名
      2010年電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      堺
    • 年月日
      2010-09-16
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] チップ内ばらつきの成分解析手法2010

    • 著者名/発表者名
      藤本秀一、Islam A.K.M.Mahfuzul、西澤真一、小野寺秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム2010
    • 発表場所
      豊橋
    • 年月日
      2010-09-03
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] レイアウト制約が性能と製造性に与える影響2010

    • 著者名/発表者名
      北島和彦、砂川洋輝、土谷亮、小野寺秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム2010
    • 発表場所
      豊橋
    • 年月日
      2010-09-03
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] バッファチェインにおけるパルス幅縮小現象を利用したSETパルス幅測定回路2010

    • 著者名/発表者名
      古田潤、小林和淑、小野寺秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム2010
    • 発表場所
      豊橋
    • 年月日
      2010-09-03
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] 組み合わせ回路におけるランダム・テレグラフ・ノイズの影響の評価2010

    • 著者名/発表者名
      伊東恭佑、松本高士、小林和淑、小野寺秀俊
    • 学会等名
      DAシンポジウム2010
    • 発表場所
      豊橋
    • 年月日
      2010-09-03
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Variability Characterization Using an RO-array Test Structure2010

    • 著者名/発表者名
      Shinichi Nishizawa, Kazutoshi Kobayashi, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      4th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield
    • 発表場所
      Anaheim(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2010-06-14
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] D-FlipFlop Design for Enhanced Tolerance to Within-Die Variation2010

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera, Hiroki Sunagawa
    • 学会等名
      4th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield
    • 発表場所
      Anaheim(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2010-06-14
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] Extraction of Variability Sources from Within-die Random Delay Variation2010

    • 著者名/発表者名
      Shuichi Fujimoto, Islam A.K.M Mahfuzul, Shinichi Nishizawa, Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      4th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield
    • 発表場所
      Anaheim(アメリカ合衆国)
    • 年月日
      2010-06-14
    • 関連する報告書
      2010 実績報告書
  • [学会発表] An Impact of Within-Die Variation on Supply Voltage Dependence of Path Delay

    • 著者名/発表者名
      Shinichi Nishizawa
    • 学会等名
      TAU workshop
    • 発表場所
      Stateline /NV
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Impact of Random Telegraph Noise on CMOS Logic Delay Uncertainty

    • 著者名/発表者名
      Takashi Matsumoto
    • 学会等名
      ACM The TAU Workshop (TAU) 2013
    • 発表場所
      Stateline, Nevada, USA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] ランダム・テレグラフ・ノイズがCMOS組合せ回路の遅延ゆらぎに及ぼす影響

    • 著者名/発表者名
      松本高士
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      岐阜市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Analysis and Comparison of XOR Cell Structures for Low Voltage Circuit Design

    • 著者名/発表者名
      Shinichi Nishizawa
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      San Jose/CA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] ランダム・テレグラフ・ノイズが低電圧CMOS論理回路の遅延ゆら ぎに及ぼす影響

    • 著者名/発表者名
      松本高士
    • 学会等名
      応用物理学会分科会 シリコンテクノロジー
    • 発表場所
      東京
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Dependable VLSI Platform using Robust Fabrics

    • 著者名/発表者名
      Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      18th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) 2013
    • 発表場所
      Yokohama
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Impact of Random Telegraph Noise on CMOS Logic Delay Uncrtainty under Low Voltage Operation

    • 著者名/発表者名
      T. Matsumoto
    • 学会等名
      IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 2012
    • 発表場所
      San Francisco, America
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響

    • 著者名/発表者名
      松本高士
    • 学会等名
      デザインガイア2012
    • 発表場所
      九州大学
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] lOn-chip Detection of Process Shift and Process Spread for Silicon Debugging and Mode-Hardware Correlation

    • 著者名/発表者名
      Islam A.K.M. Mahfuzu
    • 学会等名
      IEEE 21st Asian Test Symposium (ATS) 2012
    • 発表場所
      Niigata, Japan
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] A Body Bias Generator Compatible with Cell-basedDesign Flow for Within-die Variability Compensation

    • 著者名/発表者名
      Norihiro Kamae
    • 学会等名
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference(A-SSCC) 2012
    • 発表場所
      Kobe
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] A Built-in Self-adjustment Scheme with Adaptive Body Bias using P/N-sensitive Digital Monitor Circuits

    • 著者名/発表者名
      Islam A.K.M Mahfuzul
    • 学会等名
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference(A-SSCC) 2012
    • 発表場所
      Kobe
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Impact Body-Biasing Technique on RTN-induced CMOS Logic Delay Uncertainty

    • 著者名/発表者名
      T. Matsumoto
    • 学会等名
      IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC) 2012
    • 発表場所
      San Jose, America
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] An Impact of Within-Die Variation on Supply Voltage Dependence of Path Delay

    • 著者名/発表者名
      Shinichi Nishizawa
    • 学会等名
      International Workshop on Variability Modeling and Charactorization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose/CA
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] A Flexible Structure of Standard Cell and Its Optimization Method for Near-Threshold Voltage Operation

    • 著者名/発表者名
      Shinichi Nishizawa
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Computer Design(ICCD)
    • 発表場所
      Montreal
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Impact of Body-Biasing Technique on RTN-induced Delay Fluctuation

    • 著者名/発表者名
      Matsumoto Takashi
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2012)
    • 発表場所
      Kyoto
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] Impact on delay due to random telegraph noise under low voltage operation in logic circuits

    • 著者名/発表者名
      Nishimura Shohei
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2012)
    • 発表場所
      Kyoto
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] 劣化測定と回復測定を高速に切り替え可能なNBTI測定回路の特性評価

    • 著者名/発表者名
      三木淳司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      富山
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] A Standard Cell Optimization Method for Near-Threshold Voltage Operations

    • 著者名/発表者名
      Masahiro Kondo
    • 学会等名
      International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS) 2012
    • 発表場所
      Newcastle
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] NBTI・RTNが論理回路およびSRAMの信頼性に与える影響について

    • 著者名/発表者名
      松本高士
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2012
    • 発表場所
      下呂
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] 低電圧動作に適したセルライブラリのゲート幅決定法とその評価

    • 著者名/発表者名
      近藤正大
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2012
    • 発表場所
      下呂
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] 低電圧動作に向けたPN比可変スタンダードセルライブラリの構成法とその評価

    • 著者名/発表者名
      西澤真一
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2012
    • 発表場所
      下呂
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] 完全ディジタル型のP/Nばらつきの自律補償回路

    • 著者名/発表者名
      Islam A.K.M Mahfuzul
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2012
    • 発表場所
      下呂
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] チップ内基板バイアス生成回路のモジュール化設計

    • 著者名/発表者名
      釡江典裕
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2012
    • 発表場所
      下呂
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書
  • [学会発表] LSI信頼性へのRTN・NBTIの影響と特性補償技術について

    • 著者名/発表者名
      松本高士
    • 学会等名
      LSIとシステムのワークショップ
    • 発表場所
      北九州市
    • 関連する報告書
      2012 実績報告書

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公開日: 2010-08-23   更新日: 2019-07-29  

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