| 研究課題/領域番号 |
22300017
|
|---|
| 研究種目 |
基盤研究(B)
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 応募区分 | 一般 |
|---|
| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
|
|---|
| 研究機関 | 九州工業大学 |
|---|
研究代表者 |
温 暁青 九州工業大学, 情報工程学院, 教授 (20250897)
|
|---|
| 研究分担者 |
梶原 誠司 九州工業大学, 情報工学研究院, 教授 (80252592)
宮瀬 紘平 九州工業大学, 情報工学研究院, 助教 (30452824)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
|
| 配分額 *注記 |
6,500千円 (直接経費: 5,000千円、間接経費: 1,500千円)
2012年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2011年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2010年度: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
|
|---|
| キーワード | LSIテスト / 低電力テスト / テスト電力調整 / 遅延テスト / 微小遅延故障 / 活性化パス / 高品質化 / 高信頼化 |
|---|
| 研究概要 |
LSIテストでは、活性化パスの遅延超過に起因する歩留まり低下、及び、活性化パスの遅延不足に起因する微小遅延欠陥検出不能による品質低下は深刻化してきている。本研究では、活性化パス近傍の局所電力を必要に応じて増減させることによって、各活性化パスにおける遅延超過や遅延不足を同時に解決するという、電力調整型テスト方式を世界に先駆けて確立した。この方式は、半導体産業の生命線である歩留まりと品質の向上に貢献すると期待できる。
|
