強磁性共鳴を用いた磁気交換力顕微鏡の原子分解能観察条件の研究

• 研究課題/領域番号: 22340082
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 物性Ⅰ
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 李 艶君 大阪大学, 工学研究科, 准教授 (50379137)
• 研究分担者: 菅原 康弘 大阪大学, 工学研究科, 教授 (40206404)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2012
• 研究課題ステータス: 完了 (2012年度)
• 配分額: 18,330千円 (直接経費: 14,100千円、間接経費: 4,230千円); 2012年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円); 2011年度: 5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円); 2010年度: 10,140千円 (直接経費: 7,800千円、間接経費: 2,340千円)
• キーワード: 磁気交換力顕微鏡 / 強磁性共鳴 / 磁気変調 / 磁気モーメント / マイクロ波吸収 / 磁性探針 / マイクロ波照射 / スピン

研究概要

個々の原子によって構築されたナノ構造体の磁気的性質を理解するために最も重要なものは、原子の磁気モーメント(スピン)間の磁気交換相互作用である。これを直接測定できる革新的な手法として、磁気交換力顕微鏡が注目されている。本研究は、『強磁性共鳴を用いて、物質表面に作用する磁気交換力を原子分解能で観察できる磁気交換力顕微鏡を開発する』ことを課題として提案した。

研究成果

• [雑誌論文] The stray capacitance effect in Kelvin probe force microscopy using FM, AM and heterodyne AM modes (2013)
  • 著者名/発表者名: Z. Ma, L. Kou, Y. Naitoh, Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Nanotechnol 巻: 24 号: 22 ページ: 225701-225701
  • DOI: 10.1088/0957-4484/24/22/225701
  • 査読あり
• [雑誌論文] Complex Design of Dissipation Signals in Non-Contact Atomic Force Microscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, S. Jarvis, Y. Naitoh, Y. Sugawara, and L. Kantorovich
  • 雑誌名: J. Bamidele, Phys. Chem. Chem. Phys 巻: 14 ページ: 16250-16257
  • 査読あり
• [雑誌論文] Quantification of atomic-scale elasticity on Ge(001)-c(4×2) surfaces via noncontact atomic force microscopy with a tungsten-coated ti (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Naitoh, T. Kamijo, Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Phys. Rev. Lett. 巻: 109 号: 21 ページ: 215501-215501
  • DOI: 10.1103/physrevlett.109.215501
  • 査読あり
• [雑誌論文] Chemical tip fingerprinting in scanning probe microscopy of an oxidized Cu(110) surface (2012)
  • 著者名/発表者名: J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turansky, S. H. Lee, Y. N a ito h , Y. J . L I, Y. S u g a w a r a , I . S tic h , a n d L. Kantorovich
  • 雑誌名: Phys. Rev. B 巻: 86 号: 15
  • DOI: 10.1103/physrevb.86.155422
  • 査読あり
• [雑誌論文] High potential sensitivity in heterodyne amplitude modulation Kelvin probe force microscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara, L. Kou, Z. Ma, T. Kamijo, Y. Naitoh, and Y. J. Li
  • 雑誌名: Appl. Phys. Lett 巻: 100 号: 22
  • DOI: 10.1063/1.4723697
  • 査読あり
• [雑誌論文] Force Mapping on NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78 K (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, K. Tenjin, Y. Kinoshita, Z. Ma, L. Kou, Y. Naitoh, M. Kageshima and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Jpn. J. Appl. Phys. 巻: 51 号: 3R ページ: 035201-035201
  • DOI: 10.1143/jjap.51.035201
  • 査読あり
• [雑誌論文] Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Aburaya, H. Nomura, M. Kageshima, Y. Naitoh, Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 雑誌名: J. Appl. Phys 巻: 109 号: 6
  • DOI: 10.1063/1.3552926
  • 査読あり
• [雑誌論文] Fabrication of sharp tungsten-coated tip for atomic force microscopy by ion-beam sputter deposition (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Kinoshita, Y.Naitoh, Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 雑誌名: Rev.Sci.Instrum. 巻: 82 号: 11
  • DOI: 10.1063/1.3663069
  • 査読あり
• [雑誌論文] Force Mapping on NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78K (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.J.Li, K.Tenjin, Y.Kinoshita, Z.Ma, L.Kou, Y Naitoh, M Kageshima, Y Sugawara
  • 雑誌名: Ultramicroscopy 巻: (印刷中)
  • NAID: 40019199673
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous observation of surface topography and elasticity at atomic scale by multifrequency frequency modulation atomic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Naitoh, Z. Ma, Y. J. Li, M. Kageshima and Y. Sugawara
  • 雑誌名: J. Vac. Sci. Technol. B 巻: 28 号: 6 ページ: 1210-1214
  • DOI: 10.1116/1.3503611
  • 査読あり
• [雑誌論文] High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: N. Kobayashi, Y. J. Li, Y. Naitoh, M. Kageshima and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Appl. Phys. Lett 巻: 97 号: 1
  • DOI: 10.1063/1.3457431
  • 査読あり
• [雑誌論文] Multifrequency High-Speed Phase- Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, K. Takahashi, N. Kobayashi, Y. Naitoh, M. Kageshima, and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Ultramicroscopy 巻: 110 号: 6 ページ: 582-585
  • DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.02.014
  • 査読あり
• [雑誌論文] Step Response Measurement of AFM Cantilever for Analysis of Frequency-Resolved Viscoelasticity (2010)
  • 著者名/発表者名: T. Ogawa, S. Kurachi, M. Kageshima, Y. Naitoh, Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Ultramicroscopy 巻: 110 号: 6 ページ: 612-617
  • DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.02.020
  • 査読あり
• [雑誌論文] Effect of Surface Stress around the SAStep of Si(001) on the Dimer Structure Induced by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Naitoh, Y. J. Li, H. Nomura, M. Kageshima and Y. Sugawara
  • 雑誌名: J. Phys. Soc. Jpn 巻: 79 号: 1 ページ: 013601-013601
  • DOI: 10.1143/jpsj.79.013601
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous observation of surface topography and elasticity at atomic scale by multifrequency frequency modulation atomic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Naitoh, Z.Ma, Y.J.Li, M.Kageshima, Y.Sugawara
  • 雑誌名: J.Vac.Sci.&Technol.B 巻: 28 ページ: 1210-1214
  • 査読あり
• [雑誌論文] High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: N.Kobayashi, Y.J.Li, Y.Naitoh, M.Kageshima, Y.Sugawara
  • 雑誌名: Appl.Phys.Lett. 巻: 97
  • 査読あり
• [雑誌論文] Multifrequency High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in liquids (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.J.Li, K.Takahashi, N.Kobayashi, Y.Naitoh, M.Kageshima, Y.Sugawara
  • 雑誌名: Ultramicroscopy 巻: 110 ページ: 582-585
  • 査読あり
• [雑誌論文] Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Determined by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5K (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Naitoh, Y.J.Li, H.Nomura, M.Kageshima, Y.Sugawara
  • 雑誌名: J.Phys.Soc.Jpn. 巻: 79
  • 査読あり
• [学会発表] 原子間力顕微鏡法によるGe(001)-c(4x2)表面上の原子スケール弾性状態の測定 (2013)
  • 著者名/発表者名: 内藤賀公
  • 学会等名: 物理学会第６8回年次大会
  • 発表場所: 広島大学 広島
• [学会発表] フォトンAFMによる近接場光高分解能イメージング (2013)
  • 著者名/発表者名: 徳山貴士
  • 学会等名: 2013年春季第60回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 神奈川工科大学 厚木
• [学会発表] 小振幅での原子間力顕微鏡(AFM)測定によるフォース分光 (2013)
  • 著者名/発表者名: 磯山季歩
  • 学会等名: 2013年春季第60回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 神奈川工科大学 厚木
• [学会発表] 探針の強磁性共鳴による磁気交換力の測定 (2013)
  • 著者名/発表者名: 有馬英司
  • 学会等名: 2013年春季第60回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 神奈川工科大学 厚木
• [学会発表] アルミナ超薄膜の線欠陥上での接触電位差測定 (2013)
  • 著者名/発表者名: 芦田裕太
  • 学会等名: 2013年春季第60回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 神奈川工科大学 厚木
• [学会発表] 光てこ変位検出方式を用いた極低温原子間力顕微鏡の開発 (2013)
  • 著者名/発表者名: 駒村直
  • 学会等名: 2013年春季第60回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 神奈川工科大学 厚木
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with Low-Temperature AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara and Y. J. Li
  • 学会等名: Annual Meeting of The Chinese Vacuum Society (CVS-2012)
  • 発表場所: Lanzhou, China
• [学会発表] Identification of Al Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface with NC-AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, S. Oozawa, Y. Naitoh and Y. Sugawara
  • 学会等名: The 10-th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces
  • 発表場所: University of Tokyo, Japan
• [学会発表] Identification of Aluminum Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface by NC-AFM with a stiff Si tip (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li and Yeek Energy Materials Nanotec. Sugawara
  • 学会等名: 2012 EMN Open Access W hnology
  • 発表場所: Chengdu, China
• [学会発表] Identification of Al Atoms with Different Coordination on Al_2O_3/NiAl(110) Surface with NC-AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, O. Shuhei, Y. Naitoh and Y. Sugawara
  • 学会等名: NC-AFM 2012
  • 発表場所: Cesky Krumlov, Czech Republic
• [学会発表] Atomic Scale Surface Potential measurement on Ti_O2(110) Surface with Kelvin Probe Force Microscopy Using Ir-tip (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, T. Kamijo, L. L. Kou, Z. M. Ma, Y. Naitoh, and Y. Sugawara
  • 学会等名: International Conference on Nanoscience & Technology (ICN+T 2012)
  • 発表場所: Paris, France
• [学会発表] Identification of Al Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface with NC-AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li
  • 学会等名: NC-AFM 2012
  • 発表場所: Cesky Krumlov, Czech Republic
• [学会発表] Surface Potential Measurement on TiO2 (110) Surface with Kelvin Probe Force Microscopy Using Ir-tip (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li
  • 学会等名: International Conference on Nanoscience & Technology (ICN+T 2012)
  • 発表場所: Paris, France
• [学会発表] Identification of Al Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface with NC-AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li
  • 学会等名: The 10-th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces
  • 発表場所: University of Tokyo, Japan
• [学会発表] Identification of Aluminum Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface by NC-AFM with a stiff Si tip (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li
  • 学会等名: 2012 EMN Open Access Week Energy Materials Nanotechnology
  • 発表場所: Chengdu, China
  • 招待講演
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with Low-Temperature AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara
  • 学会等名: Annual Meeting of The Chinese Vacuum Society (CVS-2012)
  • 発表場所: Lanzhou, China.
  • 招待講演
• [学会発表] フォトンAFMによる近接場光高分解能イメージング (2012)
  • 著者名/発表者名: 古川真, 山田修平, 内藤賀公, 李艶君, 菅原康弘
  • 学会等名: 2012春季第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大学
• [学会発表] フォトンAFMによる高分解能近接場光イメージング (2012)
  • 著者名/発表者名: 山田修平, 古川真, 内藤賀公, 李艶君, 菅原康弘
  • 学会等名: 2012春季第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大学
• [学会発表] 強磁性共鳴を用いた磁気交換力顕微鏡の開発に関する研究(2) (2012)
  • 著者名/発表者名: 土師将裕, 高田翔一, 内藤賀公, 李艶君, 菅原康弘
  • 学会等名: 2012春季第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大学
• [学会発表] ばね定数・共振周波数の大きなSiカンチレバーを用いた小振幅FM-AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: 有馬英司、土師将裕, 高田翔一, 内藤賀公, 李艶君, 菅原康弘
  • 学会等名: 2012春季第59回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 早稲田大学
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いた酸化銅Cu(110)-O表面における力分布測定 (2012)
  • 著者名/発表者名: 木下幸則、内藤賀公、李艶君、菅原康弘
  • 学会等名: 2012物理学会第67回年次大会
  • 発表場所: 関西学院大学神戸
• [学会発表] 多周波数FM-AFMによる表面形状と弾性の原子レベル同時測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 内藤賀公、馬宗敏、李艶君、菅原康弘
  • 学会等名: 2011春季第58回応用物理学関係連合講演会
  • 発表場所: 神奈川工科大学、神奈川
  • 年月日: 2011-03-27
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surfacewith Low Temperature Noncontact AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 学会等名: International Symposium on Test and Measurement (ISTM)
  • 発表場所: Suzhou, China
• [学会発表] Stable Contrast Mode on TiO2 (110) Surface using AFM with Tungsten-coated Tips (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, Y. Tsukuda, Y. Naitoh and Y. Sugawara
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] Tip-induced heating of Co atoms on Cu (110)-O surface with low-temperature AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara, Y. Kinoshita, Y. Naitoh, and Y. J. Li
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu (110)-O Surface with Low Temperature Noncontact AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 学会等名: International Symposium on Test and Measurement (ISTM)
  • 発表場所: Suzhou, China(招待講演)
• [学会発表] Stable Contrast Mode on TiO_2 (110) Surface using AFM with Tungsten-coated Tips (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.J.Li, Y.Tsukuda, Y.Naitoh, Y.Sugawara
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] Investigation of TiO_2 (110) by AFM/STM with the Metal Coated Tip (2011)
  • 著者名/発表者名: L.Kou, Y.Naitoh, Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] Huge & Complex Dissipation signals from small & Simple NC-AFM Scans (2011)
  • 著者名/発表者名: J.Bamidele, H.Nomura, S.Jarvis, Y.J.Li, Y.Naitoh, M.Kageshima, Y.Sugawara, L.Kantorovich
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] Small-amplitude FM-AFM using a Si cantilever with very high stiffness and very high resonance frequency (2011)
  • 著者名/発表者名: M.Haze, Y.Naitoh, Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] Visualization of atomic scale elasticity on Ge (001) surface with multifrequency FM-AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Naitoh, Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] AFM/STM simultaneous measurement on Cu (110)-O with metal-coated cantilever (2011)
  • 著者名/発表者名: Z-M.Ma, Y.Naitoh, Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
• [学会発表] Stable Contrast Mode on TiO_2 (110) Surface by AFM with W-coated Tips (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.J.Li, Y.Tsukuda, Y.Naitoh, Y.Sugawara
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Touyako, Japan
• [学会発表] Imaging of Al_2O_3 Thin Film (2011)
  • 著者名/発表者名: R.Doi, S.Ozawa, Y.Naitoh, Y.J.Li, S.Sugawara
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Touyako, Japan
• [学会発表] Investigation of Optical Properties in Nano Region Using Photon AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: S.Yamada, Y.Naitoh, Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Touyako, Japan
• [学会発表] Sub-nm Resolution Imaging on Sapphire Surface with Photon AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: M.Furukawa, Y.Naitoh, Y.J.Li, Y.Sugawara
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
  • 発表場所: Touyako, Japan
• [学会発表] Wコートカンチレバーを用いたTiO2(110)表面のAFM測定 (2011)
  • 著者名/発表者名: 佃至弘, 内藤賀公, 李艶君, 菅原康弘
  • 学会等名: 2011年秋季第72回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 山形大学
• [学会発表] 強磁性共鳴を用いた磁気交換力顕微鏡の開発に関する研究 (2011)
  • 著者名/発表者名: 土師将裕、高田翔一、内藤賀公、李艶君、菅原康弘
  • 学会等名: 2011年秋季第72回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 山形大学
• [学会発表] Force Mapping on NaCl (100)/Cu (111) Surface by AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, K. Tenjin, Y. Naitoh, M. Kageshima and Y. Sugawara
  • 学会等名: The 12th International ScanningProbe Microscopy Conference Sapporo 2010
  • 発表場所: Japan
• [学会発表] Development of Multifrequency High-speed PM-AFM in CA mode with the capability of imaging topography, energy dissipation and elasticity in liquids (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, K. Takahashi, Y. Naitoh and Y. Sugawara
  • 学会等名: 18th International Vacuum congress (IVC18)
  • 発表場所: Beijing, China
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with Low Temperature AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugawara
  • 学会等名: 15th International Conference on Solid Films and Surfaces(ICSFS-15)
  • 発表場所: Beijing, China(招待講演)
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with Low Temperature Noncontact AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugawara
  • 学会等名: 4th AEARU Advanced Materials Science Workshop on Artificial and Self-Organized Nanostructure Sciences and Nano-Technologies for the Sustainable World
  • 発表場所: Tsukuba, Japan(招待講演)
• [学会発表] Development of Multifrequency High-Speed PM-AFM in CA Mode with the capability of imaging topography, energy dissipation and elesticity in liquid (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.J.Li, K.Takahashi, Y.Naitoh, Y.Sugawara
  • 学会等名: 18th International Vacuum Congress (IVC-18)
  • 発表場所: Beijing, China
• [学会発表] Atom manipulation and force spectroscopy on Cu(110)-O surface with low temperature noncontact AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugawara
  • 学会等名: 18th International Vacuum Congress (IVC-18)
  • 発表場所: Beijing, China(招待講演)
• [学会発表] Study Force Distribution on NaCl(100)/Cu(111) surface by AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.J.Li, K.Tenjin, Y.Naitoh, Y.Sugawara
  • 学会等名: International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Kanazawa, Japan
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with Low Temperature Noncontact AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugawara, Y.Kinoshita, Y.Naitoh, M.Kageshima, Y.J.Li
  • 学会等名: International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Kanazawa, Japan
• [学会発表] Atom manipulation and force spectroscopy on Cu(110)-O surface with low temperature noncontact AFM (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Sugawara
  • 学会等名: 6th Nanoscience and Nanotechnology Conference (NANOTR-VI)
  • 発表場所: Izmir, Tu r key(招待講演)
• [図書] プローブ顕微鏡用高速アクチュエータの開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 菅原康弘、李艶君、内藤賀公
  • 出版者: エヌ・ティー・エヌ、新アクチュエータ開発の最前線
• [図書] 新アクチュエータ開発の最前線 (2011)
  • 著者名/発表者名: 菅原康弘、李艶君、内藤賀公
  • 出版者: エヌ・ティー・エヌ
• [図書] Development of High-Speed Actuator for Scanning Probe Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara, Y. J. Li, Y. Naitoh and M. Kageshima
  • 出版者: Springer, Next Generation Actuators Leading Breakthroughs
• [備考]
  • URL: http://nanophysics.ap.eng.osaka-u.ac.jp/
• [備考]
  • URL: http://nanophysics.ap.eng.osaka-u.ac.jp/
• [備考]
  • URL: http://nanophysics.ap.eng.osaka-u.ac.jp/