| 研究課題/領域番号 |
22350009
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物理化学
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
宗像 利明 大阪大学, 理学研究科, 教授 (20150873)
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| 研究分担者 |
山田 剛司 大阪大学, 大学院・理学研究科, 助教 (90432468)
加藤 浩之 大阪大学, 大学院・理学研究科, 准教授 (80300862)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
18,980千円 (直接経費: 14,600千円、間接経費: 4,380千円)
2012年度: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2011年度: 6,760千円 (直接経費: 5,200千円、間接経費: 1,560千円)
2010年度: 7,800千円 (直接経費: 6,000千円、間接経費: 1,800千円)
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| キーワード | 表面界面 / 顕微2光子光電子分光 / 角度分解2光子光電子分光 / 非占有準位 / 有機薄膜 / 有機半導体 / STM / LEED / 角度分解２光子光電子分光 / 顕微２光子光電子分光 |
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| 研究概要 |
有機薄膜の電子状態測定では膜の空間的不均一性が高精度分光の障害となる。顕微2光子光電子分光装置を改良し、有機薄膜の非占有準位に対して、バンド構造の測定、時間分解測定を行った。グラファイト(HOPG)上の鉛フタロシアニン(PbPc)の非占有準位の分散を測定した。また、時間分解測定から光励起後の電子と空孔の散乱過程をとらえた。さらに、ルブレン薄膜では、基板上の非占有表面準位と分子順位の相互作用により、光励起確率が大幅に向上する現象を見出した
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