| 研究課題/領域番号 |
22350098
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
高分子・繊維材料
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
雨宮 慶幸 東京大学, 大学院・新領域創成科学研究科, 教授 (70151131)
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| 研究分担者 |
篠原 佑也 東京大学, 大学院・新領域創成科学研究科, 助教 (60451861)
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| 連携研究者 |
為則 雄祐 公益財団法人高輝度光科学研究センタ ー, 利用研究促進部門, 研究員 (10360819)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
10,140千円 (直接経費: 7,800千円、間接経費: 2,340千円)
2012年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2011年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2010年度: 7,020千円 (直接経費: 5,400千円、間接経費: 1,620千円)
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| キーワード | 異常小角X線散乱 / 異常小角Ｘ線散乱 / ゴム / イオウ分散状態 / 高分子構造・物性 / 放射線、X線、粒子線 / 構造・機能材料 |
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| 研究概要 |
SPring-8の軟X線用分光ビームラインBL27SUにて、イオウのK吸収端での異常小角X線散乱実験技術・解析技術を開発し、同手法を用いてゴム中でのイオウによる散乱を特異的に抽出し、イオウの分散状態を解明することを目的として実施した。検出器や測定法の検討を実施することで、散乱実験が従来実施されていないエネルギー領域でも散乱強度のエネルギー依存性を解析するに足る高精度・高確度な散乱強度測定に成功し、ゴム中でのイオウ分散状態に関する知見が得られた。
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