| 研究課題/領域番号 |
22360264
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
金属物性
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| 研究機関 | 東北大学 |
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研究代表者 |
林 好一 東北大学, 金属材料研究所, 准教授 (20283632)
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| 研究分担者 |
古原 忠 東北大学, 金属材料研究所, 教授 (50221560)
山本 篤史郎 宇都宮大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (40334049)
掛下 知行 大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (90127209)
寺井 智之 大阪大学, 大学院・工学研究科, 講師 (20346183)
松下 智裕 (財)高輝度光科学研究センター, 制御・情報 部門, 主幹研究員 (10373523)
鈴木 基寛 (財)高輝度光科学研究センター, 利用研究促 進部門, 主幹研究員 (60443553)
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| 研究期間 (年度) |
2010 – 2012
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| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
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| 配分額 *注記 |
18,980千円 (直接経費: 14,600千円、間接経費: 4,380千円)
2012年度: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2011年度: 4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2010年度: 9,620千円 (直接経費: 7,400千円、間接経費: 2,220千円)
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| キーワード | 拡散 / 相変態 / 状態図 / 蛍光X線ホログラフィー / ホログラフィー / 蛍光Ｘ線 / 相転移 / 強電子相関系 / マルテンサイト / 蛍光X線 |
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| 研究概要 |
クライオスタットを組み込み、5Kまで測定できる蛍光X線ホログラフィー装置の開発を行った。また、Ti50Ni50-xFex系単結晶の測定を相転移前後の温度で測定した。他にも、In0.995Ga0.005SbにおけるGa周りにおける局所格子歪みの解析に本手法を適用した。それにより、ドーパント周辺では動径方向よりも角度方向に原子がずれやすいことなど、興味深い事実がいくつも判明した。
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